作者Alan Hastings具有淵博的集成電路版圖設(shè)計(jì)知識和豐富的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。本書以實(shí)用和權(quán)威性的觀點(diǎn)全面論述了模擬集成電路版圖設(shè)計(jì)中所涉及的各種問題及目前的最新研究成果。書中介紹了半導(dǎo)體器件物理與工藝、失效機(jī)理等內(nèi)容；基于模擬集成電路設(shè)計(jì)所采用的3種基本工藝：標(biāo)準(zhǔn)雙極工藝、CMOS硅柵工藝和BiCMOS工藝，重點(diǎn)探討了無源器件的設(shè)計(jì)與匹配性問題，二極管設(shè)計(jì)，雙極型晶體管和場效應(yīng)晶體管的設(shè)計(jì)與應(yīng)用，以及某些專門領(lǐng)域的內(nèi)容，包括器件合并、保護(hù)環(huán)、焊盤制作、單層連接、ESD結(jié)構(gòu)等；最后介紹了有關(guān)芯片版圖的布局布線知識。本書可作為相關(guān)專業(yè)高年級本科生和研究生教材，對于專業(yè)版圖設(shè)計(jì)人員也是一本極具價(jià)值的參考書。
標(biāo)簽：
73.8
555
模擬電路
上傳時(shí)間：
2013-06-23
上傳用戶：天大地大
