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輻射測量儀

  • 我做的畢業設計,用AT89S51 控制LCD1602作為顯示. DS1302時鐘芯片顯示時間,DS18B20測量溫度,還有4X4的鍵盤驅動.實現了一個計算功能.可以用PROTUES 仿真軟件仿真,當時

    我做的畢業設計,用AT89S51 控制LCD1602作為顯示. DS1302時鐘芯片顯示時間,DS18B20測量溫度,還有4X4的鍵盤驅動.實現了一個計算功能.可以用PROTUES 仿真軟件仿真,當時我還做出實物來了.

    標簽: PROTUES 1602 1302 DS

    上傳時間: 2013-11-29

    上傳用戶:拔絲土豆

  • 透過MOSFET電壓電流最佳化控制傳導性及輻射性EMI

    經由改變外部閘極電阻(gate resistors)或增加一個跨在汲極(drain)和源極(source)的小電容來調整MOSFET的di/dt和dv/dt,去觀察它們如何對EMI產生影響。然後我們可了解到如何在效率和EMI之間取得平衡。我們拿一個有著單組輸出+12V/4.1A及初級側MOSFET AOTF11C60 (αMOSII/11A/600V/TO220F) 的50W電源轉接器(adapter)來做傳導性及輻射性EMI測試。

    標簽: MOSFET EMI 電壓電流 控制

    上傳時間: 2014-09-08

    上傳用戶:swing

  • 用于RFID接收器的基帶電路

    射頻識別 (RFID) 技術采用輻射和反射 RF 功率來識別和跟蹤各種目標。典型的 RFID 繫統由一個閱讀器和一個轉發器 (或標簽) 組成。

    標簽: RFID 接收器 基帶電路

    上傳時間: 2013-11-17

    上傳用戶:huyanju

  • 地感線圈的一個射頻算法,通過單片機記數器來計算頻率,當有鐵質物體通過線圈,線圈的電感量就會改變,從而判斷有無物體.

    地感線圈的一個射頻算法,通過單片機記數器來計算頻率,當有鐵質物體通過線圈,線圈的電感量就會改變,從而判斷有無物體.

    標簽: 線圈 射頻 單片機 算法

    上傳時間: 2013-12-17

    上傳用戶:asasasas

  • 一篇來自臺灣中華大學的論文--《無線射頻系統標簽晶片設計》

    一篇來自臺灣中華大學的論文--《無線射頻系統標簽晶片設計》,彩色版。其摘要為:本論文討論使用於無線射頻辨識系統(RFID)之標籤晶片系統的電路設計和晶片製作,初步設計標籤晶片的基本功能,設計流程包含數位軟體及功能的模擬、基本邏輯閘及類比電路的設計與晶片電路的佈局考量。 論文的第一部份是序論、射頻辨識系統的規劃、辨識系統的規格介紹及制定,而第二部份是標籤晶片設計、晶片量測、結論。 電路的初步設計功能為:使用電容作頻率緩衝的Schmitt trigger Clock、CRC-16的錯誤偵測編碼、Manchester編碼及使用單一電路做到整流、振盪及調變的功能,最後完成晶片的實作。

    標簽: 大學 論文 無線射頻

    上傳時間: 2016-08-27

    上傳用戶:tb_6877751

  • 量測可變電阻的類比電壓值

    量測可變電阻的類比電壓值,並將10位元的良測結果轉換成ASCII編碼,並輸出到個人電腦上的終端機

    標簽:

    上傳時間: 2014-01-19

    上傳用戶:hzy5825468

  • 利用T2FNN進行MEC建模,針對IC散射現象進行量測與模擬比較

    利用T2FNN進行MEC建模,針對IC散射現象進行量測與模擬比較

    標簽: T2FNN MEC 建模 散射

    上傳時間: 2014-01-10

    上傳用戶:fandeshun

  • 德州儀器新款DSP TMS320C2834X 晶片 SCI 自動 BAUD 偵測程式設計.

    德州儀器新款DSP TMS320C2834X 晶片 SCI 自動 BAUD 偵測程式設計.

    標簽: 2834X C2834 2834 320C

    上傳時間: 2013-12-01

    上傳用戶:ayfeixiao

  • 基于射頻識別物聯網電磁場原理的研究

    為了了解物聯網應用拓展,探索RFID(射頻識別技術)技術,文章從理論上對射頻識別技術電磁場原理進行了探討,從天線的電流模型出發,通過理論推導得出電磁量的計算公式,該公式對物聯網具體的技術應用有一定的理論指導作用,對射頻信號自動識別目標對象并獲取相關數據,起到理論支撐作用。

    標簽: 射頻識別 物聯網 電磁場

    上傳時間: 2013-10-31

    上傳用戶:manking0408

  • 手機射頻測試指導

    目前國家對手機的質量問題越來越重視,公司對于手機質量的客戶滿意度和返修率也-致關注。其中,GSM手機的射頻問題仍然是一個影響手機質量、開發進度和生產效率的重要因素。為了保證產品的品質和性能符合GSM規范和國家標準,需要在手機測試方面建立一套完整、科學的測試體系,為此我們參照GSM規范歐洲標準、國家郵電部移動通信技術規范、國家信息產業部通信行業標準以及日常積累的測試經驗編寫了這份射頻測試規程。本規范的目的是針對研發階段的GSM手機提供一個較全面測試和校準的指標依據,盡量保證研發階段GSM手機的點測指標滿足FTA,CTA與批量生產點測指標要求,使手機的射頻問題盡可能在研發階段暴露出來并在量產前解決,同時為評估手機的RF點測性能、指標余量、一致性、穩定性提供參考依據,另外為不熟悉測試的新員工提供一些指導。本文主要內容包括射頻指標術語解釋,發射機和接收機部分射頻指標的測試方法,測試結果,測試參考標準等,最后還給出了指標超標的一般分析。1于我們射頻知識與經驗有限,不足之處請指導

    標簽: 射頻測試

    上傳時間: 2022-06-20

    上傳用戶:kingwide

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