隨著紅外焦平面陣列的不斷發(fā)展，紅外技術(shù)的應(yīng)用范圍將越來越廣泛。焦平面面陣探測器的一個最大的缺點是固有的非均勻性。本文首先介紹了紅外熱成像技術(shù)的發(fā)展，討論了紅外焦平面陣列的基本原理和工作方式，分析了紅外非均勻性產(chǎn)生的原因。其次研究了幾種主要的非均勻校正方法以及焦平面陣列元的盲元檢測和補償?shù)姆椒?，對紅外圖像處理技術(shù)做了研究。 本文研究的探測器是法國ULIS公司的320×240非制冷微測輻射熱計焦平面陣列探測器。主要研究對其輸出信號進行非均勻性校正和圖像增強。最后針對這一課題編寫了基于FPGA的兩點校正、兩點加一點校正、全局非均勻校正算法和紅外圖像直方圖均衡化增強程序，并對三種校正方法做了比較。
上傳時間： 2013-08-03
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文中簡單闡述了紅外輻射機理，論述了紅外焦平面陣列技術(shù)的發(fā)展狀況。紅外成像系統(tǒng)，尤其是紅外焦平面陣列，由于探測器材料和制造工藝的原因，各像素點之間的靈敏度存在差別，甚至存在一些缺陷點，各個探測單元特征參數(shù)不完全一致，因而存在著較大的非均勻性，降低了圖像的分辨率，影響了紅外成像系統(tǒng)的有效作用距離。實時非均勻性校正是提高和改善紅外圖像質(zhì)量的一項重要技術(shù)。 論文建立了描述其非均勻性的數(shù)學模型，分析了紅外焦平面陣列非均勻性產(chǎn)生的原因及特點，討論了幾種常用的非均勻性校正的方法，指出了其各自的優(yōu)缺點和適應(yīng)場合。 根據(jù)紅外探測器光譜響應(yīng)的特點和基于參考源的兩點溫度非均勻性校正理論，采用FPGA+DSP實現(xiàn)紅外成像系統(tǒng)實時非均勻性兩點校正，設(shè)計完成了相應(yīng)的紅外焦平面陣列非均勻性校正硬件電路。對該系統(tǒng)中各個模塊的功能及電路實現(xiàn)進行了詳細的描述，并給出了相應(yīng)的結(jié)構(gòu)框圖。同時給出了該圖像處理器的部分軟件流程圖。該方法動態(tài)范圍大而且處理速度快，適用于紅外成像系統(tǒng)實時的圖像處理場合。實踐表明，該方案取得了較為滿意的結(jié)果。
上傳時間： 2013-04-24
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該文檔為基于場景的光學遙感影像非均勻性校正講解文檔，是一份很不錯的參考資料，具有較高參考價值，感興趣的可以下載看看………………
上傳時間： 2021-11-21
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非移失性x9241與89c2051的接口電路與編程
上傳時間： 2013-12-23
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2推薦：串口擴展芯片GM812X和非易失性存
上傳時間： 2015-06-16
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：介紹了獨立成分分析(ICA)的基本模型及其假設(shè)、含混性、非高斯性度量和通用求解過程。討論了目前ICA 的幾個研究方向的發(fā)展現(xiàn)狀和面臨的問題，分析了ICA 基本模型和幾種擴展模型的求解算法，包括盲反卷積、卷積混和的盲分離、非線性瞬時混合的盲分離。提出了ICA 未來理論和應(yīng)用研究中的開放課題。
上傳時間： 2013-12-24
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本書內(nèi)容包括： 快速有效的測試存儲器芯片 如何寫入和擦除快閃存儲器 用循環(huán)冗余校驗碼驗證非易失性存儲器數(shù)據(jù) 與芯片的內(nèi)部外設(shè)和外部外設(shè)接口 設(shè)計和實現(xiàn)設(shè)備驅(qū)動 優(yōu)化嵌入式軟件 最大限度高性能的應(yīng)用C++特性 本書適用于嵌入式系統(tǒng)程序員、設(shè)計師和項目管理人員
標簽： 測試 存儲器芯片 存儲器數(shù)據(jù) 外設(shè)
上傳時間： 2016-08-31
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FM25L256B是采用先進的鐵電技術(shù)制造的256Kb非易失性存儲器。鐵電隨機存儲器（FRAM）具有非易失性，并且可以象RAM一樣快速讀寫。數(shù)據(jù)在掉電后可以保存10年，同時消除由EEPROM和其他非易失性存儲器導致的復雜性，開銷和系統(tǒng)級別可靠性問題。
上傳時間： 2016-09-26
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程控增益線性脈沖放大器的設(shè)計。 設(shè)計了一種新型程控增益線性脈沖放大器。采用準高斯CR2RC2CR 成形電路結(jié)構(gòu),使用非易失性數(shù)字電位器和精密運放,使電路結(jié)構(gòu)大大簡化,抗干擾能力強,增益多級連續(xù)變化平穩(wěn),且具有溫漂低、脈沖線性好等特點
上傳時間： 2013-11-27
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fm1808中文資料 描述 FM1808是用先進的鐵電技術(shù)制造的 256K位的非易失性的記憶體 鐵電隨機 存儲器 FRAM 是一種具有非易失 性 并且可以象RAM一樣快速讀寫 但 它沒有BBSRAM模組系統(tǒng)的設(shè)計復雜 性 缺點和相關(guān)的可靠性問題 數(shù)據(jù)在 掉電可以保存10年 高速寫以及高擦寫 次數(shù)使得它比EEPROM或其他非易失性 存儲器可靠性更高 系統(tǒng)更簡單
上傳時間： 2014-01-11
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