模擬退火算法 模擬退火算法(Simulated Annealing,簡稱SA算法)是模擬加熱熔化的金屬的退火過程，來尋找全局最優(yōu)解的有效方法之一。 模擬退火的基本思想和步驟如下： 設(shè)S＝{s1,s2,…,sn}為所有可能的狀態(tài)所構(gòu)成的集合， f：S—R為非負(fù)代價函數(shù)，即優(yōu)化問題抽象如下： 尋找s*∈S，使得f(s*)＝min f(si) 任意si∈S （1）給定一較高初始溫度T，隨機(jī)產(chǎn)生初始狀態(tài)S （2）按一定方式，對當(dāng)前狀態(tài)作隨機(jī)擾動，產(chǎn)生一個新的狀態(tài)S’ S’＝S＋sign(η).δ 其中δ為給定的步長， η為[－1,1]的隨機(jī)數(shù)
標(biāo)簽： Simulated Annealing 模擬退火算法 模擬
上傳時間： 2014-01-02
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*--- --- --- --聲明--- --- --- -----*/ /* VC6.0下運(yùn)行通過 此程序?yàn)楸救丝嘈乃觯埬陂喿x的時候，尊重本人的 勞動。可以修改，但當(dāng)做的每一處矯正或改進(jìn)時，請將改進(jìn) 方案，及修改部分發(fā)給本人 (修改部分請注名明：修改字樣) Email: jink2005@sina.com QQ: 272576320 ——初稿完成：06-5-27 jink2005 補(bǔ)充： 程序存在問題： (1) follow集不能處理：U->xVyVz的情況 (2) 因本人偷懶，本程序?yàn)榧尤胛姆ㄅ袛啵? 輸入的文法必須為LL(1)文法 (3) 您可以幫忙擴(kuò)充：消除左遞歸，提取公因子等函數(shù) (4) …… */ /*-----------------------------------------------*/ /*參考書《計(jì)算機(jī)編譯原理——編譯程序構(gòu)造實(shí)踐》 LL(1)語法分析,例1: ERTWF# +*()i# 文法G[E]:(按此格式輸入) 1 E -> TR 2 R -> +TR 3 R -> 4 T -> FW 5 W -> * FW 6 W -> 7 F -> (E) 8 F -> i 分析例句：i*(i)# , i+i# 例2： 編譯書5.6例題1 SHMA# adbe# S->aH H->aMd H->d M->Ab M-> A->aM A->e 分析例句：aaabd# */
上傳時間： 2016-02-08
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stats 用于檢驗(yàn)回歸模型的統(tǒng)計(jì)量，有三個數(shù)值：相關(guān)系數(shù)r2、F值、與F對應(yīng)的概率p.相關(guān)系數(shù)r2越接近1，說明回歸方程越顯著；F > F1-α（k，n-k-1）時拒絕H0，F(xiàn)越大，說明回歸方程越顯著；與F對應(yīng)的概率p 時拒絕H0，回歸模型成立.
上傳時間： 2014-01-18
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信號與系統(tǒng)試驗(yàn)報(bào)告 離散傅立葉變換（DFT）和頻譜分析 一、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容 1、實(shí)驗(yàn)題目 （1）編寫DFT、IDFT程序，并驗(yàn)證其正確性（提示：可利用沖激函數(shù)進(jìn)行驗(yàn)證）。 （2）計(jì)算信號f(t)=e-at2sin(2∏ft)的離散傅立葉變換（DFT），求其振幅譜，相位譜、振幅最大值對應(yīng)的頻譜（檢測主頻）以及對發(fā)f(t)進(jìn)行DFT變換的結(jié)果實(shí)現(xiàn)IDFT變換，并畫出圖形。 參數(shù)選擇如下：頻率f =30HZ，a=f 2㏑(M),M=2.5 2、通過實(shí)驗(yàn)理解信號振幅譜、相位譜的物理意義，掌握DFT、IDFT算法的實(shí)現(xiàn)方法。
標(biāo)簽： DFT IDFT 實(shí)驗(yàn) 信號與系統(tǒng)
上傳時間： 2016-06-13
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動態(tài)規(guī)劃的方程大家都知道，就是 f[i,j]=min{f[i-1,j-1],f[i-1,j],f[i,j-1],f[i,j+1]}+a[i,j] 但是很多人會懷疑這道題的后效性而放棄動規(guī)做法。 本來我還想做Dijkstra，后來變了沒二十行pascal就告訴我數(shù)組越界了……（dist:array[1..1000*1001 div 2]...） 無奈之余看了xj_kidb1的題解，剛開始還覺得有問題，后來豁然開朗…… 反復(fù)動規(guī)。上山容易下山難，我們可以從上往下走，最后輸出f[n][1]。 xj_kidb1的一個技巧很重要，每次令f[i][0]=f[i][i],f[i][i+1]=f[i][1]（xj_kidb1的題解還寫錯了）
標(biāo)簽： 動態(tài)規(guī)劃 方程 家
上傳時間： 2014-07-16
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從鍵盤讀入一個四位的十六進(jìn)制數(shù)，CRT顯示等值的二進(jìn)制數(shù). 由于每個十六進(jìn)制數(shù)位對應(yīng)4個二進(jìn)制，所以每讀入一個十六進(jìn)制位后，即可將其對應(yīng)的4個二進(jìn)制位依次輸出。由于數(shù)字‘０’~ ‘９’的ASCⅡ碼為30H～39H,字母‘a(chǎn)’～‘f’與 ‘A’～‘F’的ASCⅡ碼為61H～66H 與41H～46H ，因此，如果輸入的字母為數(shù)字‘０’～‘９’，則其低４位即為對應(yīng)的二進(jìn)制位；如果輸入的字符為字母‘ａ’～‘ｆ’或‘Ａ’～‘Ｆ’，則需要減７，然后通過移位將低４位依次輸出。
上傳時間： 2014-01-24
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利用花指令擾亂Cracker，以達(dá)到保護(hù)軟件的作用。 本工具可以自定義花指令，有三種模式，如下： １、隨機(jī)插入花指令 ２、指定插入固定的花指令 ３、全部插入花指令 使用方法： 1、請自行在 JunkData.mdb 數(shù)據(jù)庫中添加花指令 2、在您要放花指令的地方寫：{$F Junk} 3、{$F Junk} 為花指令標(biāo)記 4、用本工具處理后，重新編譯即可。
上傳時間： 2013-12-27
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設(shè)計(jì)高速電路必須考慮高速訊 號所引發(fā)的電磁干擾、阻抗匹配及串音等效應(yīng)，所以訊號完整性 (signal integrity)將是考量設(shè)計(jì)電路優(yōu)劣的一項(xiàng)重要指標(biāo)，電路日異複雜必須仰賴可 靠的軟體來幫忙分析這些複雜的效應(yīng)，才比較可能獲得高品質(zhì)且可靠的設(shè)計(jì)， 因此熟悉軟體的使用也將是重要的研究項(xiàng)目之一。另外了解高速訊號所引發(fā)之 各種效應(yīng)(反射、振鈴、干擾、地彈及串音等)及其克服方法也是研究高速電路 設(shè)計(jì)的重點(diǎn)之一。目前高速示波器的功能越來越多，使用上很複雜，必須事先 進(jìn)修學(xué)習(xí)，否則無法全盤了解儀器之功能，因而無法有效發(fā)揮儀器的量測功能。 其次就是高速訊號量測與介面的一些測試規(guī)範(fàn)也必須熟悉，像眼圖分析，探針 效應(yīng)，抖動(jitter)測量規(guī)範(fàn)及高速串列介面量測規(guī)範(fàn)等實(shí)務(wù)技術(shù)，必須充分 了解研究學(xué)習(xí)，進(jìn)而才可設(shè)計(jì)出優(yōu)良之教學(xué)教材及教具。
標(biāo)簽： 高速電路
上傳時間： 2021-11-02
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華為電容基礎(chǔ)和深入認(rèn)識+電容10說1）旁路 旁路電容是為本地器件提供能量的儲能器件，它能使穩(wěn)壓器的輸出均勻化， 降低負(fù)載需求。 就像小型可充電電池一樣，旁路電容能夠被充電，并向器件進(jìn) 行放電。 為盡量減少阻抗，旁路電容要盡量靠近負(fù)載器件的供電電源管腳和地 管腳。 這能夠很好地防止輸入值過大而導(dǎo)致的地電位抬高和噪聲。地彈是地連 接處在通過大電流毛刺時的電壓降。 2）去藕 去藕，又稱解藕。 從電路來說， 總是可以區(qū)分為驅(qū)動的源和被驅(qū)動的負(fù)載。 如果負(fù)載電容比較大， 驅(qū)動電路要把電容充電、放電， 才能完成信號的跳變， 在上升沿比較陡峭的時候， 電流比較大， 這樣驅(qū)動的電流就會吸收很大的電源 電流，由于電路中的電感，電阻（特別是芯片管腳上的電感，會產(chǎn)生反彈），這 種電流相對于正常情況來說實(shí)際上就是一種噪聲，會影響前級的正常工作，這就 是所謂的“耦合”。 去藕電容就是起到一個“電池”的作用，滿足驅(qū)動電路電流的變化，避免相 互間的耦合干擾。 將旁路電容和去藕電容結(jié)合起來將更容易理解。旁路電容實(shí)際也是去藕合 的，只是旁路電容一般是指高頻旁路，也就是給高頻的開關(guān)噪聲提高一條低阻抗 泄防途徑。高頻旁路電容一般比較小，根據(jù)諧振頻率一般取 0.1μF、0.01μF 等；
上傳時間： 2022-03-20
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F型端子的壓接與檢驗(yàn)
標(biāo)簽： 端子
上傳時間： 2013-06-05
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