針對一般測溫方法在進行流體多點溫度測量時存在系統(tǒng)復雜,準確度和速度難以兼顧的問題,提出了一種基于溫度-頻率(T-F)變換的測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)使用PIC18F6722單片機控制MOS管開關陣列,使多個測點的熱敏電阻分別與TLC555構(gòu)成振蕩電路,將測點的溫度變化轉(zhuǎn)化為振蕩頻率的變化,使用8253計數(shù)芯片對TLC555的輸出信號進行測量并產(chǎn)生中斷,單片機讀取8253計數(shù)值反演為測點溫度。實驗表明,測點數(shù)目增多不會增加測量系統(tǒng)的復雜程度,通過設置8253的計數(shù)初值,可以在不改變硬件的情況下靈活選擇測量的準確度和速度,滿足了流體多點精確快速測溫的需求。同時該系統(tǒng)具備簡潔實用,成本低的優(yōu)點。
標簽: T-F 變換 多點 流體
上傳時間: 2013-10-23
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針對野戰(zhàn)光纖光路損耗介紹一種精密光功率測量方法,分析了+,-光電接收元件的+%,(光功率%光電流)特性,并建立了實際模型&設計的裝置測量范圍為%#)!)./(光功率的相對衰減值),經(jīng)實踐檢驗具有較好 的精度.
標簽: 光纖 光功率 精密測量 裝置
上傳時間: 2013-11-20
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本文介紹了采用光連續(xù)波反射法(OCWR) 技術的光回波損耗測試儀的校準內(nèi)容和校準方法。校準內(nèi)容包括內(nèi)部光源的校準、光功率計的校準、回波損耗校準件的校準、回波損耗測量準確度的校準等諸多方面,著重介紹了校準回波損耗測量準確度的校準方法- 光回波損耗無源模擬法和有源模擬法,并介紹了無源模擬法和有源模擬法所使用的標準儀器和計算公式以及不確定度評定。經(jīng)對多臺光回波損耗測試儀的校準,表明本校準方法準確可行,滿足了客戶的需求。
標簽: 光回波 損耗 反射 測試儀
上傳時間: 2015-01-03
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第一章光纖連接在介紹光纖光纜性能檢測方法之前,先講述光纖連接特別是光纖端面處理和熔接技術,作為必須掌握的基本技能訓練。實際的光通信系統(tǒng)由光發(fā)射器、光傳輸通道(光纖)、光接收器三個主要部分組成,光纖光纜的傳輸性能檢測系統(tǒng)也同樣如此。系統(tǒng)各部分之間的銜接就是光耦合或光纖連接問題。通信系統(tǒng)和檢測系統(tǒng)都要求各部分之間光耦合有高耦合效率、穩(wěn)定可靠、連接損耗小的連接。而且光耦合和光纖連接技術是光纖通信系統(tǒng)和檢測系統(tǒng)中一門非常基本和實用的技術。第一節(jié)光耦合一、光纖與光源的耦合在光纖通信系統(tǒng)和光纖傳輸特性檢測系統(tǒng)中使用多種光源,有半導體激光器、氣體激光器、液體激光器、發(fā)光二極管、寬光譜光源等等。它們大致可以分為兩大類,一類是相干光源,如各種激光器;另一類是非相干光源,如發(fā)光二極管、寬光譜光源(白熾燈)。光耦合先要解決如何高效率地把光源發(fā)射的光注入到傳輸通道中去的問題。為此,先了解一下光源的特性。
標簽: 光纖光纜 測試 講義
上傳時間: 2013-10-30
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潮光內(nèi)部整理資料
標簽: TLP 4222G 3231 4222
上傳時間: 2013-10-28
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潮光整理資料:過零雙向可控硅光耦應用原理
標簽: MOC 3063 3041 363
上傳時間: 2013-11-10
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開關電源應用光耦應用方案
標簽: 開關 光耦 電源應用
上傳時間: 2013-11-03
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TLP265J,TLP266J是東芝新推出的2款4pin SO6封裝的雙向可控硅輸出光耦,它們的耐壓能力能達到600V,它旨在取代以前采用4pin MFSOP6封裝的TLP260J和TLP261J,因為MFSOP6封裝的爬電距離較小,使其的隔離電壓只能達到BVS=3000 Vrms ,這使得東芝的這系列產(chǎn)品在與競爭對手的產(chǎn)品對比中處于劣勢,因為目前SOP封裝的光耦隔離電壓普遍能達到BVS=3750 Vrms 。而東芝新推出的TLP265J,TLP266J也能達到這個隔離能力。
標簽: TLP 265J 266J 265
上傳時間: 2013-10-22
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小封裝四通道交流光耦電路應用及功能介紹
標簽: TLP PS 2705 2805
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TLP2301是東芝新推出的一款SOP封裝晶體管輸出光耦合器,相比傳統(tǒng)的晶體管輸出光耦TLP2301在晶片上進行了改善,可以在低至1mA的輸入電流下進行驅(qū)動,同時保證了20k的傳輸速率,并且有非常廣的工作溫度:-55至125°C。TLP2303則采用達靈頓輸出。
標簽: 2301 TLP 關斷時間 光耦
上傳時間: 2013-11-08
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