-型ADC是現代語音頻帶、音頻和高分辨率精密工業測量應用所青睞的轉換器。
標簽: ADC 022 III MT
上傳時間: 2013-11-14
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當我們需要設計一個具有特定性能的DAC時,很可能沒有任何一種架構是理想的。這種情況下,可以將兩個或更多DAC組合成一個更高分辨率的DAC,以獲得所需的性能。這些DAC可以是同一類型,也可以是不同類型,各DAC的分辨率無需相同
標簽: DAC 016 III MT
上傳時間: 2014-12-23
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雖然串DAC和溫度計DAC是迄今最為簡單的DAC架構,但需要高分辨率時,它們絕不是 最有效的。二進制加權DAC每位使用一個開關,首創于1920年代(參見參考文獻1、2和3)。 自此以后一直頗受歡迎,成為現代精密和高速DAC的支柱架構。
標簽: DAC 015 MT 架構
上傳時間: 2013-11-12
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ADXL345是一款小巧纖薄的低功耗三軸加速度計,可以對高達±16 g的加速度進行高分辨率(13位)測量。數字輸出數據為16位二進制補碼格式,可通過SPI(3線或4線)或者I2C數字接口訪問。
標簽: ADuC 7024 ADXL 345
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在非相參雷達測試系統中,頻率合成技術是其中的關鍵技術.針對雷達測試系統的要求,介紹了一種用DDS激勵PLL的X波段頻率合成器的設計方案。文中給出了主要的硬件選擇及具體電路設計,通過對該頻率合成器的相位噪聲和捕獲時間的分析,及對樣機性能的測試,結果表明該X波段頻率合成器帶寬為800 MHz、輸出相位噪聲優于-80 dBc/Hz@10 kHz、頻率分辨率達0.1 MHz, 可滿足雷達測試系統系統的要求。測試表明,該頻率合成器能產生低相噪、高分辨率、高穩定度的X波段信號,具有較好的工程應用價值。
標簽: X波段 頻率合成器 設計方案
上傳時間: 2013-10-21
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越柬越多的應用 例如過程控制、稱重等 都需要高分辨率、高集成度和低價格的ADC。 新型Σ .△轉換技術恰好可以滿足這些要求 然而, 很多設計者對于這種轉換技術并不 分了解, 因而更愿意選用傳統的逐次比較ADC Σ.A轉換器中的模擬部分非常簡單(類似j 個Ibit ADC), 而數字部分要復雜得多, 按照功能町劃分為數字濾波和抽取單元 由于更接近r 個數字器件,Σ △ADC的制造成本非常低廉.
標簽: ADC
上傳時間: 2013-10-24
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基于數字微鏡器件(Digital Micro-mirror Device,DMD)的哈達瑪變換光譜技術是一種新型的光譜成像技術,在國內很少有專門的文獻介紹[1-3]。文中先介紹了本實驗采用的哈達瑪光譜儀樣機的原理以及哈達瑪成像光譜儀優于傳統模板的獨特之處,即獲得多通道高能量高信噪比的光譜數據,然后描述對采集到的數據做高信噪比,高分辨率壓縮處理,最后說明此方法實時性強、圖像失真小、實用價值高、應用范圍廣。
標簽: 哈達 變換光譜儀 壓縮系統
上傳時間: 2013-11-25
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直接數字式頻率合成器(DDS)—DDS同DSP(數字信號處理)一樣,也是一項關鍵的數字化技術。與傳統的頻率合成器相比,DDS具有低成本、低功耗、高分辨率和快速轉換時間等優點。
標簽: 時鐘 數字頻率合成器
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模擬轉換器性能不只依賴分辨率規格 大量的模數轉換器(ADC)使人們難以選擇最適合某種特定應用的ADC器件。工程師們選擇ADC時,通常只注重位數、信噪比(SNR)、諧波性能,但是其它規格也同樣重要。本文將介紹ADC器件最易受到忽視的九項規格,并說明它們是如何影響ADC性能的。 1. SNR比分辨率更為重要。 ADC規格中最常見的是所提供的分辨率,其實該規格并不能表明ADC器件的任何能力。但可以用位數n來計算ADC的理論SNR: 不 過工程師也許并不知道,熱噪聲、時鐘抖動、差分非線性(DNL)誤差以及其它參數異常都會限制ADC器件的SNR。對于高性能高分辨率轉換器尤其如此。一 些數據表提供有效位數(ENOB)規格,它描述了ADC器件所能提供的有效位數。為了計算ADC的ENOB值,應把測量的SNR值放入上述公式,并求解 n。
標簽: ADC 指標
上傳時間: 2014-12-22
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C2000™ MCU 系列采用了 32 位架構、先進的外圍電路和模擬集成,可在多種應用中實現完美的性能和實時控制。獨特且功能齊全的外圍電路包括一個無以倫比的單片 12.5-MSPS ADC、高分辨率 PWM、增強型捕獲單元等等。根據對系統的限制,如最低的待機電流、成本要求或最小的解決方案尺寸需求,TI 提供最佳的產品為使用 C2000 MCU 的系統提供支持。
標簽: MCU 電源管理 方案
上傳時間: 2013-10-27
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