采用軟件校正的TMS320f2812內(nèi)置ADC采樣值方案.rar
采用軟件校正的TMS320f2812內(nèi)置ADC采樣值方案...
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高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn),給混合信號測試領(lǐng)域帶來前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測試方案實現(xiàn)了多個ADC測試過程的并行化和實時化,減少了單個ADC的平均測試時間,從而降低ADC測試成本。 本文實現(xiàn)了基于FPGA的ADC并行測試方法。在閱讀相關(guān)文獻的基礎(chǔ)上,總結(jié)了常用ADC參數(shù)測試方法和測試流程。使用FPGA...
隨著現(xiàn)代通信與信號處理技術(shù)的不斷發(fā)展,對于高速高精度AD轉(zhuǎn)換器的需求越來越大。但是,隨著集成電路工藝中電路特征線寬的不斷減小,在傳統(tǒng)單通道ADC框架下同時實現(xiàn)高速、高精度的數(shù)模轉(zhuǎn)換愈加困難。此時,時分交替ADC 作為......
高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn),給混合信號測試領(lǐng)域帶來前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測試方案實現(xiàn)了多個ADC測試過程的并行化和實時化,減少了單個ADC的平均測試時間,從而降低ADC測試成本。本文實現(xiàn)了基于FPGA的ADC并行測試方法。在閱讀相關(guān)文獻的基礎(chǔ)上,總結(jié)了常用ADC參數(shù)測試方法和測試流程。使用FPGA實...
LM3S系列ADC例程:多種采樣觸發(fā)方式...