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高壓直流輸電

  • 模塊電源功能性參數(shù)指標(biāo)及測(cè)試方法

      模塊電源的電氣性能是通過一系列測(cè)試來呈現(xiàn)的,下列為一般的功能性測(cè)試項(xiàng)目,詳細(xì)說明如下: 電源調(diào)整率(Line Regulation) 負(fù)載調(diào)整率(Load Regulation) 綜合調(diào)整率(Conmine Regulation) 輸出漣波及雜訊(Ripple & Noise) 輸入功率及效率(Input Power, Efficiency) 動(dòng)態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載(Dynamic or Transient Response) 起動(dòng)(Set-Up)及保持(Hold-Up)時(shí)間 常規(guī)功能(Functions)測(cè)試 1. 電源調(diào)整率   電源調(diào)整率的定義為電源供應(yīng)器于輸入電壓變化時(shí)提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。測(cè)試步驟如下:于待測(cè)電源供應(yīng)器以正常輸入電壓及負(fù)載狀況下熱機(jī)穩(wěn)定后,分別于低輸入電壓(Min),正常輸入電壓(Normal),及高輸入電壓(Max)下測(cè)量并記錄其輸出電壓值。 電源調(diào)整率通常以一正常之固定負(fù)載(Nominal Load)下,由輸入電壓變化所造成其輸出電壓偏差率(deviation)的百分比,如下列公式所示:   [Vo(max)-Vo(min)] / Vo(normal) 2. 負(fù)載調(diào)整率   負(fù)載調(diào)整率的定義為開關(guān)電源于輸出負(fù)載電流變化時(shí),提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。測(cè)試步驟如下:于待測(cè)電源供應(yīng)器以正常輸入電壓及負(fù)載狀況下熱機(jī)穩(wěn)定后,測(cè)量正常負(fù)載下之輸出電壓值,再分別于輕載(Min)、重載(Max)負(fù)載下,測(cè)量并記錄其輸出電壓值(分別為Vo(max)與Vo(min)),負(fù)載調(diào)整率通常以正常之固定輸入電壓下,由負(fù)載電流變化所造成其輸出電壓偏差率的百分比,如下列公式所示:   [Vo(max)-Vo(min)] / Vo(normal)    3. 綜合調(diào)整率   綜合調(diào)整率的定義為電源供應(yīng)器于輸入電壓與輸出負(fù)載電流變化時(shí),提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。這是電源調(diào)整率與負(fù)載調(diào)整率的綜合,此項(xiàng)測(cè)試系為上述電源調(diào)整率與負(fù)載調(diào)整率的綜合,可提供對(duì)電源供應(yīng)器于改變輸入電壓與負(fù)載狀況下更正確的性能驗(yàn)證。 綜合調(diào)整率用下列方式表示:于輸入電壓與輸出負(fù)載電流變化下,其輸出電壓之偏差量須于規(guī)定之上下限電壓范圍內(nèi)(即輸出電壓之上下限絕對(duì)值以內(nèi))或某一百分比界限內(nèi)。 4. 輸出雜訊   輸出雜訊(PARD)系指于輸入電壓與輸出負(fù)載電流均不變的情況下,其平均直流輸出電壓上的周期性與隨機(jī)性偏差量的電壓值。輸出雜訊是表示在經(jīng)過穩(wěn)壓及濾波后的直流輸出電壓上所有不需要的交流和噪聲部份(包含低頻之50/60Hz電源倍頻信號(hào)、高于20 KHz之高頻切換信號(hào)及其諧波,再與其它之隨機(jī)性信號(hào)所組成)),通常以mVp-p峰對(duì)峰值電壓為單位來表示。   一般的開關(guān)電源的規(guī)格均以輸出直流輸出電壓的1%以內(nèi)為輸出雜訊之規(guī)格,其頻寬為20Hz到20MHz。電源實(shí)際工作時(shí)最惡劣的狀況(如輸出負(fù)載電流最大、輸入電源電壓最低等),若電源供應(yīng)器在惡劣環(huán)境狀況下,其輸出直流電壓加上雜訊后之輸出瞬時(shí)電壓,仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不超過輸出高低電壓界限情形,否則將可能會(huì)導(dǎo)致電源電壓超過或低于邏輯電路(如TTL電路)之承受電源電壓而誤動(dòng)作,進(jìn)一步造成死機(jī)現(xiàn)象。   同時(shí)測(cè)量電路必須有良好的隔離處理及阻抗匹配,為避免導(dǎo)線上產(chǎn)生不必要的干擾、振鈴和駐波,一般都采用雙同軸電纜并以50Ω于其端點(diǎn)上,并使用差動(dòng)式量測(cè)方法(可避免地回路之雜訊電流),來獲得正確的測(cè)量結(jié)果。 5. 輸入功率與效率   電源供應(yīng)器的輸入功率之定義為以下之公式:   True Power = Pav(watt) = Vrms x Arms x Power Factor 即為對(duì)一周期內(nèi)其輸入電壓與電流乘積之積分值,需注意的是Watt≠VrmsArms而是Watt=VrmsArmsxP.F.,其中P.F.為功率因素(Power Factor),通常無功率因素校正電路電源供應(yīng)器的功率因素在0.6~0.7左右,其功率因素為1~0之間。   電源供應(yīng)器的效率之定義為為輸出直流功率之總和與輸入功率之比值。效率提供對(duì)電源供應(yīng)器正確工作的驗(yàn)證,若效率超過規(guī)定范圍,即表示設(shè)計(jì)或零件材料上有問題,效率太低時(shí)會(huì)導(dǎo)致散熱增加而影響其使用壽命。 6. 動(dòng)態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載   一個(gè)定電壓輸出的電源,于設(shè)計(jì)中具備反饋控制回路,能夠?qū)⑵漭敵鲭妷哼B續(xù)不斷地維持穩(wěn)定的輸出電壓。由于實(shí)際上反饋控制回路有一定的頻寬,因此限制了電源供應(yīng)器對(duì)負(fù)載電流變化時(shí)的反應(yīng)。若控制回路輸入與輸出之相移于增益(Unity Gain)為1時(shí),超過180度,則電源供應(yīng)器之輸出便會(huì)呈現(xiàn)不穩(wěn)定、失控或振蕩之現(xiàn)象。實(shí)際上,電源供應(yīng)器工作時(shí)的負(fù)載電流也是動(dòng)態(tài)變化的,而不是始終維持不變(例如硬盤、軟驅(qū)、CPU或RAM動(dòng)作等),因此動(dòng)態(tài)負(fù)載測(cè)試對(duì)電源供應(yīng)器而言是極為重要的??删幊绦螂娮迂?fù)載可用來模擬電源供應(yīng)器實(shí)際工作時(shí)最惡劣的負(fù)載情況,如負(fù)載電流迅速上升、下降之斜率、周期等,若電源供應(yīng)器在惡劣負(fù)載狀況下,仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不產(chǎn)生過高激(Overshoot)或過低(Undershoot)情形,否則會(huì)導(dǎo)致電源之輸出電壓超過負(fù)載組件(如TTL電路其輸出瞬時(shí)電壓應(yīng)介于4.75V至5.25V之間,才不致引起TTL邏輯電路之誤動(dòng)作)之承受電源電壓而誤動(dòng)作,進(jìn)一步造成死機(jī)現(xiàn)象。 7. 啟動(dòng)時(shí)間與保持時(shí)間   啟動(dòng)時(shí)間為電源供應(yīng)器從輸入接上電源起到其輸出電壓上升到穩(wěn)壓范圍內(nèi)為止的時(shí)間,以一輸出為5V的電源供應(yīng)器為例,啟動(dòng)時(shí)間為從電源開機(jī)起到輸出電壓達(dá)到4.75V為止的時(shí)間。   保持時(shí)間為電源供應(yīng)器從輸入切斷電源起到其輸出電壓下降到穩(wěn)壓范圍外為止的時(shí)間,以一輸出為5V的電源供應(yīng)器為例,保持時(shí)間為從關(guān)機(jī)起到輸出電壓低于4.75V為止的時(shí)間,一般值為17ms或20ms以上,以避免電力公司供電中于少了半周或一周之狀況下而受影響。    8. 其它 在電源具備一些特定保護(hù)功能的前提下,還需要進(jìn)行保護(hù)功能測(cè)試,如過電壓保護(hù)(OVP)測(cè)試、短路保護(hù)測(cè)試、過功保護(hù)等

    標(biāo)簽: 模塊電源 參數(shù) 指標(biāo) 測(cè)試方法

    上傳時(shí)間: 2013-10-22

    上傳用戶:zouxinwang

  • 基于LabVIEW的高精度電流源設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

    基于LabVIEW的高精度電流源設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

    標(biāo)簽: LabVIEW 高精度 電流源設(shè)計(jì)

    上傳時(shí)間: 2013-11-11

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  • 變電站直流電源監(jiān)控軟件功能設(shè)計(jì)

    為了解決直流電源計(jì)算機(jī)監(jiān)控軟件設(shè)計(jì)中程序容量限制問題,以電力直流電源為背景,從監(jiān)控軟件最小系統(tǒng)出發(fā),進(jìn)行監(jiān)控軟件功能設(shè)計(jì),通過計(jì)算機(jī)監(jiān)控程序?qū)崿F(xiàn)了一些原直流電源監(jiān)控單元無法實(shí)現(xiàn)的功能,可獲得蓄電池組智能化管理、歷史數(shù)據(jù)庫(kù)、蓄電池性能估算以及電池放電容量計(jì)算等功能。本文針對(duì)蓄電池組健康程度估算、電量預(yù)警和壽命估算提供了有效方法,有利于電池組維護(hù)。

    標(biāo)簽: 變電站 直流電源 監(jiān)控軟件

    上傳時(shí)間: 2013-11-25

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  • 直流可調(diào)穩(wěn)壓電源的設(shè)計(jì)與Proteus仿真應(yīng)用

    直流可調(diào)穩(wěn)壓電源的設(shè)計(jì)與Proteus仿真應(yīng)用

    標(biāo)簽: Proteus 直流 可調(diào)穩(wěn)壓電源 仿真

    上傳時(shí)間: 2013-12-27

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  • 數(shù)字直流電壓表的設(shè)計(jì)制作

    給出了數(shù)字直流電壓表設(shè)計(jì)的具體電路,該電路采用純硬件實(shí)現(xiàn),覆蓋內(nèi)容廣泛、涉及知識(shí)點(diǎn)較多、難易適中,將其列入自主實(shí)驗(yàn)內(nèi)容,充分調(diào)動(dòng)了學(xué)生學(xué)習(xí)的積極性,對(duì)提高學(xué)生工程設(shè)計(jì)能力、綜合運(yùn)用各種知識(shí)分析問題、解決實(shí)際問題的能力等方面效果顯著。

    標(biāo)簽: 數(shù)字 直流電壓表

    上傳時(shí)間: 2013-10-12

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  • 高電源抑制比帶隙基準(zhǔn)電路設(shè)計(jì)

    介紹一種高電源抑制比帶隙基準(zhǔn)電路的設(shè)計(jì)與驗(yàn)證

    標(biāo)簽: 高電源抑制 帶隙基準(zhǔn) 電路設(shè)計(jì)

    上傳時(shí)間: 2013-10-08

    上傳用戶:642778338

  • 連續(xù)可調(diào)直流穩(wěn)壓電源(課設(shè))

    連續(xù)可調(diào)直流穩(wěn)壓電源

    標(biāo)簽: 連續(xù)可調(diào) 直流穩(wěn)壓電源

    上傳時(shí)間: 2013-10-28

    上傳用戶:zhuoying119

  • 內(nèi)高頻環(huán)逆變器的設(shè)計(jì)

    本文主要研究了一種比較簡(jiǎn)單的正弦輸出的逆變器的設(shè)計(jì)。本設(shè)計(jì)采用全橋逆變電路和用推挽升壓的方式獲得逆變器的直流輸入電壓的設(shè)計(jì)方法來獲得較大的輸出功率和較高的功率因數(shù).在直流升壓過程中用PWM集成控制器輸出相位相反具有一定占空比的兩高頻脈沖電壓來控制開關(guān)管的導(dǎo)通與關(guān)斷,進(jìn)而控制推挽升壓變壓器的輸出直流電壓,再利用SPWM調(diào)制信號(hào)控制逆變器開關(guān)管的導(dǎo)通與關(guān)斷,再用LC濾波濾掉逆變器輸出高頻部分,得到正弦波形,最后利用保護(hù)控制電路使逆變輸出一個(gè)穩(wěn)定的滿足要求的交流波形。

    標(biāo)簽: 高頻 逆變器

    上傳時(shí)間: 2013-10-20

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  • 一種高電源抑制比全工藝角低溫漂CMOS基準(zhǔn)電壓源

    基于SMIC0.35 μm的CMOS工藝,設(shè)計(jì)了一種高電源抑制比,同時(shí)可在全工藝角下的得到低溫漂的帶隙基準(zhǔn)電路。首先采用一個(gè)具有高電源抑制比的基準(zhǔn)電壓,通過電壓放大器放大得到穩(wěn)定的電壓,以提供給帶隙核心電路作為供電電源,從而提高了電源抑制比。另外,將電路中的關(guān)鍵電阻設(shè)置為可調(diào)電阻,從而可以改變正溫度電壓的系數(shù),以適應(yīng)不同工藝下負(fù)溫度系數(shù)的變化,最終得到在全工藝角下低溫漂的基準(zhǔn)電壓。Cadence virtuoso仿真表明:在27 ℃下,10 Hz時(shí)電源抑制比(PSRR)-109 dB,10 kHz時(shí)(PSRR)達(dá)到-64 dB;在4 V電源電壓下,在-40~80 ℃范圍內(nèi)的不同工藝角下,溫度系數(shù)均可達(dá)到5.6×10-6 V/℃以下。

    標(biāo)簽: CMOS 高電源抑制 工藝 基準(zhǔn)電壓源

    上傳時(shí)間: 2014-12-03

    上傳用戶:88mao

  • 透過MOSFET電壓電流最佳化控制傳導(dǎo)性及輻射性EMI

    經(jīng)由改變外部閘極電阻(gate resistors)或增加一個(gè)跨在汲極(drain)和源極(source)的小電容來調(diào)整MOSFET的di/dt和dv/dt,去觀察它們?nèi)绾螌?duì)EMI產(chǎn)生影響。然後我們可了解到如何在效率和EMI之間取得平衡。我們拿一個(gè)有著單組輸出+12V/4.1A及初級(jí)側(cè)MOSFET AOTF11C60 (αMOSII/11A/600V/TO220F) 的50W電源轉(zhuǎn)接器(adapter)來做傳導(dǎo)性及輻射性EMI測(cè)試。

    標(biāo)簽: MOSFET EMI 電壓電流 控制

    上傳時(shí)間: 2014-09-08

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