JTAG技術及其在FLASH編程中的應用
興起于上世紀80年代末，并于1990年被IEEE 標準協會接納為IEEE1149.1標準的JTAG 技術，其產生的背景是對高密度集成電路板進行故障檢測，現在已被廣泛用于支持芯片測試、設備編...
1990技術資料
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鋰電池電量檢測系統設計
鋰離子電池是1990年后逐漸發展起來的新一代電池，鋰電池較傳統的鎳鎘、鎳氫等電池在很多方面具有優勢，例如工作電壓高、質量輕、能量密度大、體積小、自放電率小、無記憶效應、循環壽命長等特點，因此，鋰電池作...
JTAG基礎知識
IEEE1149.1的產生1985年由IBM、AT&T、Texas Instruments、Philips Electronics NV、Siemens、Alcatel和Ericsson等公司...
C語言參考手冊 第5版 哈比森 清晰版
《C語言參考手冊(原書第5版)》是一本C語言的權威參考手冊，對C語言的基本概念和運行函數庫提供了完整的描述，并強調了以正確性、可移性和可維護性為基本出發點的良好編程風格。《C語言參考手冊(原書第5版)...
VIP專區-電子產品老化相關標準資料
資源包含以下內容：1.GBT2423.07-1995 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ec和導則傾跌與翻倒(主要用于設備型樣品).pdf2.GBT2423.08-1995 電工電子產品環境試...
電子產品老化相關資料及標準合集
GBT2423.51-2000 電工電子產品環境試驗第2部分 試驗方法試驗ke 流動混合氣體腐蝕試驗.pdf 535KB2019-03-29 13:34 GBT2423.50-1999 電工電子產品環...