高性能ADC產(chǎn)品的出現(xiàn)，給混合信號測試領(lǐng)域帶來前所未有的挑戰(zhàn)。并行ADC測試方案實(shí)現(xiàn)了多個(gè)ADC測試過程的并行化和實(shí)時(shí)化，減少了單個(gè)ADC的平均測試時(shí)間，從而降低ADC測試成本。 本文實(shí)現(xiàn)了基于FPGA的ADC并行測試方法。在閱讀相關(guān)文獻(xiàn)的基礎(chǔ)上，總結(jié)了常用ADC參數(shù)測試方法和測試流程。使用FPGA...
FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前廣泛使用的一種可編程器件，F(xiàn)PGA的出現(xiàn)使得ASIC(Application Specific Integrated Circuits)產(chǎn)品的上市周期大大縮短，并且節(jié)省了大量的開發(fā)成本。目前FPGA的功能越來越強(qiáng)大，滿足了...
隨著FPGA(FieldProgrammableGateArray)器件的應(yīng)用越來越廣泛且重要，F(xiàn)PGA的測試技術(shù)也得到了廣泛重視和研究。基于FPGA可編程的特性，應(yīng)用獨(dú)立的測試(工廠測試)需要設(shè)計(jì)數(shù)個(gè)測試編程和測試向量來完成FPGA的測試，確保芯片在任何用戶可能的編程下都可靠工作。 本論文正是針對...
本文提出一種基于PC104嵌入式工業(yè)控制計(jì)算機(jī)與現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)的PCB測試機(jī)的硬件控制系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案。方案中設(shè)計(jì)高效高壓控制電路，實(shí)現(xiàn)測試電壓與測試電流的精確數(shù)字控制。選用雙高壓電子開關(guān)形式代替高壓模擬電子開關(guān)，大幅度提高測試電壓。采用多電源方式在低控制電壓下實(shí)現(xiàn)對高壓電子開關(guān)的控制...
論文首先介紹了SRAM型FPGA的典型代表XC4000系列的結(jié)構(gòu)和主要特性，并對XC4000系列器件的配置模式和配置順序做了簡單介紹。根據(jù)XC4000系列器件各組成模塊的功能和特點(diǎn)，可以將其分為可編程邏輯功能塊(CLB)、輸入輸出功能塊(IOB)、互連資源(IR)、可配置接口模塊(CIM)和進(jìn)位...
