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?? 技術文檔：1
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這篇文章主要介紹ARM JTAG調(diào)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG調(diào)試原理。 這篇文章主要是總結了前段時間的一些心得體會，希望對想了解ARM...

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