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B樣條曲線生成程序,HHT插件等。rilling版本

B樣條曲線生成程序,HHT插件等。rilling版本，供大家參考學(xué)習(xí)。

標(biāo)簽： rilling HHT 程序插件

上傳時間： 2014-01-02

上傳用戶：ippler8
pcf project dds sdfsd sdcsc sdcsc sdxcs gh fgb dfv fdgbvfg b fg fb fgbv gbfbf s bgtb fgbfv b fbv

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標(biāo)簽： sdcsc fdgbvfg project fgbfv

上傳時間： 2014-12-19

上傳用戶：xwd2010
基于XML－J2EE、C/S與B/S混合結(jié)構(gòu)的電子商務(wù)智能管理信息系統(tǒng)應(yīng)用研究

基于XML－J2EE、C/S與B/S混合結(jié)構(gòu)的電子商務(wù)智能管理信息系統(tǒng)應(yīng)用研究

標(biāo)簽： J2EE XML 電子商務(wù) 智能管理

上傳時間： 2017-07-22

上傳用戶：1427796291
how to finding the best way from A to B

how to finding the best way from A to B

標(biāo)簽： finding best from to

上傳時間： 2013-12-19

上傳用戶：zhouli
成績查詢,b包括界面和代碼

成績查詢,b包括界面和代碼，用于學(xué)生成績管理系統(tǒng)的成績查詢

標(biāo)簽： 查詢代碼

上傳時間： 2017-07-27

上傳用戶：caiiicc
c程序設(shè)計語言（第二版）版B.W.Kernighan、D.M.Ritchie 著

c程序設(shè)計語言（第二版）版B.W.Kernighan、D.M.Ritchie 著

標(biāo)簽： Kernighan Ritchie 程序設(shè)計語言

上傳時間： 2014-01-24

上傳用戶：athjac
C++ Primer, Fourth Edition By Stanley B. Lippman, Josée Lajoie, Barbara E. Moo .................

C++ Primer, Fourth Edition By Stanley B. Lippman, Josée Lajoie, Barbara E. Moo ............................................... Publisher: Addison Wesley Professional Pub Date: February 14, 2005 Print ISBN: 0-201-72148-1 Pages: 912

標(biāo)簽： B. E. Edition Barbara

上傳時間： 2017-08-02

上傳用戶：yxgi5
TLC5620 DAC轉(zhuǎn)換實驗程序該實驗程序使用TLC5620中A、B、C、D四個通道中的前兩個通道分別輸出周期相等、幅度均為3.3V的三角波和方波

TLC5620 DAC轉(zhuǎn)換實驗程序該實驗程序使用TLC5620中A、B、C、D四個通道中的前兩個通道分別輸出周期相等、幅度均為3.3V的三角波和方波，5620的輸出經(jīng)過LM358雙運方的反相跟隨后增強了帶負載能力并且使得輸出的信號電壓位于-3.3V～0V之間，起到了模擬反相的作用。在程序中，RNG位的置位使得輸出幅度增加一倍。

標(biāo)簽： 5620 TLC 3.3 DAC

上傳時間： 2017-08-03

上傳用戶：lindor
簡易數(shù)字頻率計--描述了97年電子設(shè)計大賽中B題的一些思路和方法。

簡易數(shù)字頻率計--描述了97年電子設(shè)計大賽中B題的一些思路和方法。

標(biāo)簽： 數(shù)字頻率計電子設(shè)計大賽

上傳時間： 2013-11-28

上傳用戶：xaijhqx
一些國內(nèi)和國外的標(biāo)準(zhǔn)。包含有：電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A 低溫試驗方法、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B 高溫試驗方法、電子測量儀器質(zhì)量檢驗規(guī)則等和SAE的一些標(biāo)準(zhǔn)

一些國內(nèi)和國外的標(biāo)準(zhǔn)。包含有：電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A 低溫試驗方法、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B 高溫試驗方法、電子測量儀器質(zhì)量檢驗規(guī)則等和SAE的一些標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)簽： SAE 標(biāo)準(zhǔn) 電工電子產(chǎn)品

上傳時間： 2014-10-28

上傳用戶：yzhl1988

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成績查詢,b包括界面和代碼

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TLC5620 DAC轉(zhuǎn)換實驗程序該實驗程序使用TLC5620中A、B、C、D四個通道中的前兩個通道分別輸出周期相等、幅度均為3.3V的三角波和方波

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