一些應(yīng)用利用 Xilinx FPGA 在每次啟動時可改變配置的能力，根據(jù)所需來改變 FPGA 的功能。Xilinx Platform Flash XCFxxP PROM 的設(shè)計修訂 (Design Revisioning) 功能，允許用戶在單個PROM 中將多種配置存儲為不同的修訂版本，從而簡化了 FPGA 配置更改。在 FPGA 內(nèi)部加入少量的邏輯，用戶就能在 PROM 中存儲的多達四個不同的修訂版本之間進行動態(tài)切換。多重啟動或從多個設(shè)計修訂進行動態(tài)重新配置的能力，與 Spartan™-3E FPGA 和第三方并行 flashPROM 一起使用時所提供的 MultiBoot 選項相似。本應(yīng)用指南將進一步說明 Platform Flash PROM 如何提供附加選項來增強配置失敗時的安全性，以及如何減少引腳數(shù)量和板面積。此外，Platform Flash PROM 還為用戶提供其他優(yōu)勢：iMPACT 編程支持、單一供應(yīng)商解決方案、低成本板設(shè)計和更快速的配置加載。本應(yīng)用指南還詳細地介紹了一個包含 VHDL 源代碼的參考設(shè)計。
上傳時間： 2013-10-10
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本應(yīng)用指南講述一種實用的 MicroBlaze™ 系統(tǒng)，用于在非易失性 Platform Flash PROM 中存儲軟件代碼、用戶數(shù)據(jù)和配置數(shù)據(jù)，以簡化系統(tǒng)設(shè)計和降低成本。另外，本應(yīng)用指南還介紹一種可移植的硬件設(shè)計、一個軟件設(shè)計以及在實現(xiàn)流程中使用的其他腳本實用工具。 簡介許多 FPGA 設(shè)計都集成了使用 MicroBlaze 和 PowerPC™ 處理器的軟件嵌入式系統(tǒng)，這些設(shè)計同時使用外部易失性存儲器來執(zhí)行軟件代碼。使用易失性存儲器的系統(tǒng)還必須包含一個非易失性器件，用來在斷電期間存儲軟件代碼。大多數(shù) FPGA 系統(tǒng)都在電路板上使用 Platform FlashPROM (在本文中稱作 PROM)，用于在上電時加載 FPGA 配置數(shù)據(jù)。另外，許多應(yīng)用還可能使用其他非易失性器件(如 SPI Flash、Parallel Flash 或 PIC)來保存 MAC 地址等少量用戶數(shù)據(jù)，因此導(dǎo)致系統(tǒng)電路板上存在大量非易失性器件。
標簽： MicroBlaze Platform Flash XAPP
上傳時間： 2013-10-15
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三菱PLC的學(xué)習(xí)FLASH
上傳時間： 2013-12-29
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為了改進產(chǎn)品性能和兼容性，最新的HDMI compliance test specification (HDMI CTS) V.1.3增加了新的測試內(nèi)容和定下了更嚴格的標準。大多數(shù)現(xiàn)在遞交給HDMI授權(quán)測試中心(ATC) 的帶有HDMI功能的電器都將按照HDMI CTS V.1.3 來測試。Analog Devices (ADI) 分別在美國的綠堡(Greensboro，NC), 東京, 臺灣和北京設(shè)立了四家預(yù)測試中心為客戶提供HDMI CT 測試以縮短客戶產(chǎn)品上市的時間。在本文中我們將討論HDMI CTS V.1.3新增加的一些重要內(nèi)容。同時我們也將著重總結(jié)一些典型測試項目失敗的原因和可能的修改方案。
上傳時間： 2013-12-15
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V-BY-ONE THCV219-220 參考設(shè)計
上傳時間： 2013-11-16
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V-BY-ONE THCV215-216 參考設(shè)計
上傳時間： 2013-10-14
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V-BY-ONE THCV213-214 參考設(shè)計
上傳時間： 2013-11-04
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V-BY-ONE應(yīng)用設(shè)計 THCV217-218 thine LVDS
上傳時間： 2013-10-20
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FLASH短接圖
上傳時間： 2013-10-11
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NAND FLASH在儲存測試系統(tǒng)中的應(yīng)用
標簽： FLASH NAND 儲存 中的應(yīng)用
上傳時間： 2013-11-19
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