干涉測量技術(shù)(Interferometry)是利用光波或電磁波的干涉現(xiàn)象進(jìn)行精密測量的一種先進(jìn)技術(shù),廣泛應(yīng)用于光學(xué)、半導(dǎo)體制造、航空航天及生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域。通過精確控制和分析兩束或多束相干光波之間的相位差,干涉測量能夠?qū)崿F(xiàn)納米級甚至亞納米級的高精度定位與檢測。對于電子工程師而言,掌握干涉測量原理不僅有助于提升在精密儀器設(shè)計與開發(fā)方面的能力,還能深入了解其在前沿科技中的應(yīng)用潛力。訪問我們的資源庫...
phase unwrapping algorithm for SAR interferometry...
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Along Track Interferometry...
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?? 金宜
Course in SAR interferometry...
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恒星干涉儀原理英文版 Principles of Stellar Interferometry...
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