?? Jtag技術(shù)資料

?? 資源總數(shù)：652
?? 源代碼：2130
?? 電路圖：2
JTAG是聯(lián)合測試工作組（JointTestActionGroup）的簡稱，是在名為標(biāo)準(zhǔn)測試訪問端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)的IEEE的標(biāo)準(zhǔn)1149.1的常用名稱。此標(biāo)準(zhǔn)用于驗(yàn)證設(shè)計(jì)與測試生產(chǎn)出的印刷電路板功能。

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隨著半導(dǎo)體制造技術(shù)不斷的進(jìn)步，SOC(System On a Chip)是未來IC產(chǎn)業(yè)技術(shù)研究關(guān)注的重點(diǎn)。由于SOC設(shè)計(jì)的日趨復(fù)雜化，芯片的面積增大，芯片功能復(fù)雜程度增大，其設(shè)計(jì)驗(yàn)證工作也愈加繁瑣。復(fù)雜ASIC設(shè)計(jì)功能驗(yàn)證已經(jīng)成為整個(gè)設(shè)計(jì)中最大的瓶頸。 使用FPGA系統(tǒng)對(duì)ASIC設(shè)計(jì)進(jìn)行功能驗(yàn)證，就...

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詳細(xì)介紹了JTAG的工作原理，尤其對(duì)在ARM嵌入式系統(tǒng)開發(fā)的方法進(jìn)行了詳細(xì)介紹。...

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邊界掃描技術(shù)是一種應(yīng)用于數(shù)字集成電路器件的標(biāo)準(zhǔn)化可測試性設(shè)計(jì)方法，它提供了對(duì)電路板上元件的功能、互連及相互間影響進(jìn)行測試的一種新方案，極大地方便了系統(tǒng)電路的測試。本文基于IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)剖析了JTAG邊界掃描測試的精髓，分析了其組成，功能與時(shí)序控制等關(guān)鍵技術(shù)。 應(yīng)用在FPGA芯片中的邊界掃...

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ARM微處理器的應(yīng)用已經(jīng)遍及工業(yè)控制、消費(fèi)類電子產(chǎn)品、通信系統(tǒng)、網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)、無線系統(tǒng)等各類產(chǎn)品市場，占領(lǐng)了32位RISC微處理器75％以上的市場份額。 本文設(shè)計(jì)的基于JTAG接口的ARM編程器，以ARM微處理器作為CPU，利用其JTAG接口對(duì)Flash在線編程的技術(shù)，給以ARM為內(nèi)核的應(yīng)用板(數(shù)控系統(tǒng)...

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