從 Mentor Graphics 的自動(dòng)測(cè)試圖形生成（ATPG）工具 FastScan的
測(cè)試文檔中提取出測(cè)試電路（CUT）的測(cè)試模式，生成便于對(duì)應(yīng)壓縮算法的文件
格式。 本文中， 給出了 2 種壓縮測(cè)試模式的方法， 一種是基于統(tǒng)計(jì)的哈夫曼編碼，
一種是基于差分運(yùn)算的Golomb 編碼。本次畢業(yè)設(shè)計(jì)中，在熟悉Mentor Graphics
ATPG工具 FastScan的基本功能和其主要的測(cè)試模式輸出文件的格式的基礎(chǔ)上，
實(shí)現(xiàn)其中測(cè)試結(jié)構(gòu)和測(cè)試模式數(shù)據(jù)的分析提取， 并且在掌握典型的測(cè)試模式壓縮
算法的思想以及 C/C++開(kāi)發(fā)環(huán)境的前提下，選擇或綜合相關(guān)的優(yōu)化壓縮算法，針
對(duì)測(cè)試結(jié)構(gòu)信息，實(shí)現(xiàn)測(cè)試模式數(shù)據(jù)的壓縮，及軟件的基本圖形化操作和結(jié)果報(bào)
告界面。
標(biāo)簽：
Graphics
FastScan
Mentor
ATPG
上傳時(shí)間：
2017-08-17
上傳用戶：bcjtao
