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九十三學(xué)年 度 全國大學(xué)校院嵌入式軟體設(shè)計競賽 多媒體組決賽報告書 具效能與耗電可調(diào)適性之智慧型數 位相機
標(biāo)簽： 63886 63849 64001 嵌入式
上傳時間： 2014-11-29
上傳用戶：jjj0202
VHDL 開發(fā)PCI加密解密卡 逢甲大學(xué) 資訊工程學(xué)系專題報告 PCI 介面之加解密卡製作
標(biāo)簽： PCI VHDL 加密 解密
上傳時間： 2016-01-21
上傳用戶：qoovoop
arm學(xué)習(xí)報告第二章 GNU Tools
標(biāo)簽： Tools arm GNU
上傳時間： 2014-11-28
上傳用戶：love1314
ARM學(xué)習(xí)報告3_HaydenLuo BIOS總體結(jié)構(gòu)及部份源代碼分析
標(biāo)簽： HaydenLuo BIOS ARM 分
上傳時間： 2016-03-14
上傳用戶：diets
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
完整的敘述如何開發(fā)即時中文辨識軟體，此為大學(xué)專題報告
標(biāo)簽：
上傳時間： 2017-06-16
上傳用戶：頂?shù)弥?/p>
告天下C++信徒
上傳時間： 2014-11-27
上傳用戶：Zxcvbnm
ATA(IDE)/ATAPI 設(shè)備初期化/情報表示工具 for SerialATA 主機接口用
標(biāo)簽： SerialATA ATAPI ATA IDE
上傳時間： 2014-01-05
上傳用戶：水口鴻勝電器
家具行業(yè)的成本核算報價系統(tǒng),主要征對家個產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)展開進(jìn)行材料成本及人工制造費用統(tǒng)計,加上可調(diào)節(jié)的利潤設(shè)定,將其成本核算出來,同時將報價單作出來
標(biāo)簽： 家 成本核算 人工 制造
上傳時間： 2014-01-21
上傳用戶：songnanhua
廣告策略制定決策支持系統(tǒng) 用Excle+VBA寫的,有源碼+文檔
標(biāo)簽： Excle VBA 策略 有源
上傳時間： 2014-01-17
上傳用戶：yulg
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