Construction Strategy of ESD Protection CircuitAbstract： The principles used to construct ESD Protection on circuits and the basic conceptions of ESD Protection design are presented.Key words：ESD Protection/On circuit, ESD design window, ESD current path1 引言靜電放電（ESD，Electrostatic Discharge）給電子器件環(huán)境會帶來破壞性的后果。它是造成集成電路失效的主要原因之一。隨著集成電路工藝不斷發(fā)展，互補金屬氧化物半導體（CMOS，Complementary Metal-Oxide Semiconductor）的特征尺寸不斷縮小，金屬氧化物半導體(MOS, Metal-Oxide Semiconductor)的柵氧厚度越來越薄，MOS 管能承受的電流和電壓也越來越小，因此要進一步優(yōu)化電路的抗ESD 性能，需要從全芯片ESD 保護結(jié)構(gòu)的設(shè)計來進行考慮。
標簽：
Construction
Strategy
ESD
of
上傳時間：
2013-11-09
上傳用戶：Aidane
