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  • 51單片機串口波特率計算器(51BPS)

    51單片機串口波特率計算器(51BPS)

    標簽: BPS 51 51單片機 串口

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:建建設設

  • 基于VerilogHDL雙向端口的設計與實現

    fpga 設計參考資料。雙向端口設計參考。

    標簽: VerilogHDL 雙向端口

    上傳時間: 2013-07-09

    上傳用戶:waizhang

  • 54x 系列DSP 與計算機并口通信的設計方案

    數字信號微處理器與計算機之間的數據通信越來越受到重視。本文主要介紹TI公司'54x系列DSP 通過主機接口(HPI)與計算機并口進行通信的簡易設計方案。該方案以簡單的電路設計實現了穩定的數據傳

    標簽: 54x DSP 計算機并口 通信

    上傳時間: 2013-06-10

    上傳用戶:youth25

  • 一種8 位I O口的單片機顯示器和鍵盤接口

    一種8 位I/O口的單片機顯示器和鍵盤接口

    標簽: 單片機 顯示器 鍵盤接口

    上傳時間: 2013-07-29

    上傳用戶:標點符號

  • 一種基于串口通訊的大文件傳輸方法

             目前計算機之間串行通訊非常普遍,針對串口通訊的通訊協議有很多,但針對串口通訊傳輸較大文件的協議目前并沒

    標簽: 串口通訊 文件傳輸

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:asd_123

  • 基于AVR單片機電風扇360度內搖頭角度自由調節裝置的實現

    本文介紹了一種基于AVR 單片機Atmel 169,與旋轉編碼器AS5040 及3966 控制直流電機構成的電風扇360 度內搖頭角度調節裝置的實現,設計了AS5040 旋轉編碼器接口電路、P

    標簽: AVR 360 單片機 電風扇

    上傳時間: 2013-05-19

    上傳用戶:cath

  • 一個串口的完整FPGA工程

    實現完整的串口設置,含校驗位設置,撥特率設置,MCU接口,簡單易用

    標簽: FPGA 串口 工程

    上傳時間: 2013-06-26

    上傳用戶:luke5347

  • TMS320VC33擴展異步串口及串口通信的實現

        DSP 在與多個外設進行通信時,通常需要對DSP 的串口進行擴展。本文詳細介紹了利用TL16C554 芯片對TMS320VC33 DSP 芯片進行串口擴展

    標簽: TMS 320 33 VC

    上傳時間: 2013-05-29

    上傳用戶:bugtamor

  • 數字識別系統源代碼

    數字識別系統源代碼 使用說明 第一步:訓練網絡。使用訓練樣本進行訓練。(此程序中也可以不訓練,因為筆者已經將訓練好的網絡參數保存起來了,讀者使用時可以直接識別) 第二步:識別。首先,打開圖像(256色);再次,進行歸一化處理,點擊“一次性處理”;最后,點擊“R”或者使用菜單找到相應項來進行識別。識別的結果顯示在屏幕上,同時也輸出到文件result.txt中。 該系統的識別率一般情況下為90%。 此外,也可以單獨對打開的圖片一步一步進行圖像預處理工作,但要注意,每一步工作只能執行一遍,而且要按順序執行。 具體步驟為:“256色位圖轉為灰度圖”-“灰度圖二值化”-“去噪”-“傾斜校正”-“分割”-“標準化尺寸”-“緊縮重排”。 注意,待識別的圖片要與win.dat和whi.dat位于同一目錄,這兩文件保存訓練后網絡的權值參數。

    標簽: 數字識別 源代碼

    上傳時間: 2013-06-25

    上傳用戶:wzr0701

  • 基于ARM系統的表面粗糙度測量儀的設計.pdf

    表面粗糙度是機械加工中描述工件表面微觀形狀重要的參數。在機械零件切削的過程中,刀具或砂輪遺留的刀痕,切屑分離時的塑性變形和機床振動等因素,會使零件的表面形成微小的蜂谷。這些微小峰谷的高低程度和間距狀況就叫做表面粗糙度,也稱為微觀不平度。表面粗糙度的測量是幾何測量中的一個重要部分,它對于現代制造業的發展起了重要的推動作用。世界各國競相進行粗糙度測量儀的研制,隨著科學技術的發展,各種各樣的粗糙度測量系統也競相問世。對于粗糙度的測量,隨著技術的更新,國家標準也一直在變更。最新執行的國家標準(GB/T6062-2002),規定了粗糙度測量的參數,以及制定了觸針式測量粗糙度的儀器標準[1]。 隨著新國家標準的執行,許多陳舊的粗糙度測量儀已經無法符合新標準的要求。而且生產工藝的提高使得原有方案的采集精度和采集速度,滿足不了現代測量技術的需要。目前,各高校公差實驗室及大多數企業的計量部門所使用的計量儀器(如光切顯微鏡、表面粗糙度檢查儀等)只能測量單項參數,而能進行多參數測量的光電儀器價格較貴,一般實驗室和計量室難以購置。因此如何利用現有的技術,結含現代測控技術的發展,職制出性能可靠的粗糙度測量儀,能有效地降低實驗室測量儀器的成本,具有很好的實用價值和研究意義。 基于上述現狀,本文在參考舊的觸針式表面粗糙度測量儀技術方案的基礎上,提出了一種基于ARM嵌入式系統的粗糙度測量儀的設計。這種測量儀采用了先進的傳感器技術,保證了測量的范圍和精度;采用了集成的信號調理電路,降低了信號在調制、檢波、和放大的過程中的失真;采用了ARM處理器,快速的采集和控制測量儀系統;采用了強大的PC機人機交互功能,快速的計算粗糙度的相關參數和直觀的顯示粗糙度的特性曲線。 論文主要做了如下工作:首先,論文分析了觸針式粗糙度測量儀的發展以及現狀;然后,詳細敘述了系統的硬件構成和設計,包括傳感器的原理和結構分析、信號調理電路的設計、A/D轉換電路的設計、微處理器系統電路以及與上位機接口電路的設計。同時,還對系統的數據采集進行了研究,開發了相應的固件程序及接口程序,完成數據采集軟件的編寫,并且對表面粗糙度參數的算法進行程序的實現。編寫了控制應用程序,完成控制界面的設計。最終設計出一套多功能、多參數、高性能、高可靠、操作方便的表面粗糙度測量系統。

    標簽: ARM 測量

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:KIM66

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