GB∕T 17626.4-2018 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn).pdf
標(biāo)簽： 電磁兼容
上傳時(shí)間： 2022-06-26
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本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC61000-4-5；1995《電磁兼容第4部分：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)第5分部分：浪涌（沖擊）抗擾度試驗(yàn)》。本標(biāo)準(zhǔn)是《電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)》系列國家標(biāo)準(zhǔn)的之一，該系列標(biāo)準(zhǔn)包括以下標(biāo)準(zhǔn)：GB/T17626.1-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)抗擾度試驗(yàn)總論GB/T17626.2-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.3-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.4-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)GB/T 17626.5-1999電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)浪涌（沖擊）抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.6-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度GB/T17626.7-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測(cè)量和測(cè)量?jī)x器導(dǎo)則GB/T17626.8-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.9-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.10-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)阻尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.11-1999電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓漸變抗擾度試驗(yàn)GB/T17626.12-1998電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)振蕩波抗擾度試驗(yàn)本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A是標(biāo)準(zhǔn)的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄B是提示的附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中華人民共和國電子工業(yè)部提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)化聯(lián)合工作組歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所、機(jī)械工業(yè)部廣州電器科學(xué)研究所、電力工業(yè)部武漢高壓研究所等。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：陳世鋼、王素英、姚帶月、聶定珍、文芳。
標(biāo)簽： 電磁兼容
上傳時(shí)間： 2022-06-29
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摘要：針對(duì)當(dāng)前嚴(yán)峻的電磁環(huán)境，分析了電磁干擾的來源，通過產(chǎn)品開發(fā)流程的分解，融入電磁兼容設(shè)計(jì)，從原理圖設(shè)計(jì)、PCB設(shè)計(jì)、元器件選型、系統(tǒng)布線、系統(tǒng)接地等方面逐步分析，總結(jié)概括電磁兼容設(shè)計(jì)要點(diǎn)，最后，介紹了電磁兼容測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容。當(dāng)前，日益惡化的電磁環(huán)境，使我們逐漸關(guān)注設(shè)備的工作環(huán)境，日益關(guān)注電磁環(huán)境對(duì)電子設(shè)備的影響，從設(shè)計(jì)開始，融入電磁兼容設(shè)計(jì)，使電子設(shè)備更可靠的工作。電磁兼容設(shè)計(jì)主要包含浪涌（沖擊）抗擾度、振鈴波浪涌抗擾度、電快速瞬變脈沖群抗擾度、電壓暫降、短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度、工頻電源諧波抗擾度、靜電抗擾度、射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度、工頻磁場(chǎng)抗擾度、脈沖磁場(chǎng)抗擾度、傳導(dǎo)騷擾、輻射騷擾、射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)抗擾度等相關(guān)設(shè)計(jì)。
上傳時(shí)間： 2022-06-29
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21世紀(jì)，電子領(lǐng)域發(fā)展迅速，使得由集成電路構(gòu)成的電子系統(tǒng)朝著大規(guī)模、小體積和高速度的方向發(fā)展。隨著芯片的體積越來越小，電路的開關(guān)速度越來越快，PCB的密度越來越大，信號(hào)的工作頻率越來越高，高速電路PCB的電磁兼容、信號(hào)完整性和電源完整性等問題一步步凸顯出來，并且相互緊密地交織在一起。其中最基礎(chǔ)的無疑是PCB版圖的設(shè)計(jì)，元器件的選取、布局的合理性、電磁兼容性等都是決定PCB版圖最終能否運(yùn)行的關(guān)鍵因素，當(dāng)然這也將決定生產(chǎn)出的芯片的好壞以及由芯片構(gòu)成的電子系統(tǒng)的質(zhì)量等等。本文通過選擇一張較為典型的高速單片開關(guān)電源圖，對(duì)其進(jìn)行SCH圖以及PCB版圖的繪制，并就其會(huì)產(chǎn)生的電磁兼容問題進(jìn)行分析和討論，提出抑制干擾的方法和手段，初步解決了單片開關(guān)電源的電磁兼容問題。關(guān)鍵詞：Protel99SE，EMC，開關(guān)電源，高速PCB，仿真
標(biāo)簽： 開關(guān)電源 pcb 版圖設(shè)計(jì) 電磁兼容
上傳時(shí)間： 2022-06-29
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摘要：20世紀(jì)人類最杰出的成就之一是電子技術(shù)和信息技術(shù)。電子信息系統(tǒng)的可靠性對(duì)生產(chǎn)、生活乃至國家安全都產(chǎn)生了巨大的影響，對(duì)信息系統(tǒng)可靠性造成影響的主要原因之一是電磁干擾。隨著電氣、電子設(shè)備的大量使用，我們周圍的環(huán)境中充滿了各種頻率的電磁波，這些電磁波對(duì)于電子設(shè)備而言都是潛在的干擾源。電磁兼容技術(shù)是電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)人員必須了解和掌握的基礎(chǔ)性技術(shù)之一。隨著我國加入WTO和實(shí)施強(qiáng)制性產(chǎn)品認(rèn)證制度，電子產(chǎn)品的電磁兼容已經(jīng)進(jìn)入到實(shí)質(zhì)性實(shí)施階段.電磁兼容設(shè)計(jì)技術(shù)和方法，已成為重要的設(shè)計(jì)內(nèi)容。本文全面地論述了電子設(shè)備的電磁兼容性問題，比較詳細(xì)地分析了干擾源、干擾的傳播途徑。并介紹了有效抑制和防止干擾的各種措施及其原理。文章從電磁兼容性設(shè)計(jì)的特點(diǎn)出發(fā)，結(jié)合電磁兼容性設(shè)計(jì)的內(nèi)容，對(duì)干擾源的抑制，屏蔽、濾波、接地、PCB設(shè)計(jì)、搭接、布局與線纜敷設(shè)的方法和注意事項(xiàng)進(jìn)行了闡述。最后，文章對(duì)數(shù)字電路中由信號(hào)和時(shí)鐘電路產(chǎn)生電磁干擾的機(jī)理進(jìn)行了詳細(xì)的分析和討論，提出了對(duì)信號(hào)輻射干擾和時(shí)鐘電路干擾的有效解決方法，并為電路的設(shè)計(jì)提供了抑制干擾的一些準(zhǔn)則，根據(jù)電磁兼容性設(shè)計(jì)的要求，指出了電容器在數(shù)字電路抗干擾中的重要作用，并提供了重要參數(shù)，給出了實(shí)際電路中電容器的選擇及使用方法t
上傳時(shí)間： 2022-06-29
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本資源包含GBT 17626.1-17626.10共10份最新的標(biāo)準(zhǔn)，本資源通過多渠道獲得，希望大家多支持。GBT 17626.1-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 抗擾度試驗(yàn)總論GBT 17626.2-2018 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗(yàn)GBT 17626.3-2016 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)GBT 17626.4-2018 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)GBT 17626.5-2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗(yàn)GBT 17626.6-2017 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度GBT 17626.7-2008 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測(cè)量和測(cè)量?jī)x器導(dǎo)則GBT 17626.8-2006 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 工頻磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)GBT 17626.9-2011 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 脈沖磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)GBT 17626.10-1998 電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 阻尼振蕩磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)
標(biāo)簽： 電磁兼容
上傳時(shí)間： 2022-07-04
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基于stm32兼容三菱軟件PLC原理圖+源碼
上傳時(shí)間： 2022-07-06
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一旦您設(shè)計(jì)完電子產(chǎn)品，就該把它推向市場(chǎng)了，對(duì)嗎？沒錯(cuò)，但并不確切。因?yàn)閷?duì)于任何產(chǎn)品開發(fā)，您都需要首先對(duì)設(shè)計(jì)的設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，驗(yàn)證其性能是否達(dá)到預(yù)期。所有電子設(shè)備最終都必須通過一個(gè)重要測(cè)試 — EMI（電磁干擾）全兼容測(cè)試。按照設(shè)備測(cè)試所依據(jù)的相應(yīng)監(jiān)管機(jī)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)的定義，通過 EMI 測(cè)試，即證明您的設(shè)備的電磁輻射性能處于可接受的范圍內(nèi)。EMI（電磁干擾）屬于EMC（電磁兼容）這一術(shù)語的范疇。在執(zhí)行預(yù)兼容測(cè)試時(shí)，您會(huì)關(guān)注 EMI 測(cè)試。這是一種來自您的設(shè)備的實(shí)際現(xiàn)象，又稱為輻射。不過，想要獲得 EMI 全兼容測(cè)試的認(rèn)證，成本是相當(dāng)昂貴的 — 萬一未能通過 —您不僅需要重新進(jìn)行設(shè)計(jì)，還會(huì)打亂您的產(chǎn)品開發(fā)時(shí)間表，耗費(fèi)大量資金。
標(biāo)簽： EMC
上傳時(shí)間： 2022-07-08
上傳用戶：d1997wayne
Altium文件、PADS文件互轉(zhuǎn)教程
上傳時(shí)間： 2022-07-09
上傳用戶：zhanglei193
GBT17626電磁兼容試驗(yàn)全標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介
上傳時(shí)間： 2022-07-20
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