My stuying help you can past this test.
標(biāo)簽： stuying help past this
上傳時(shí)間： 2016-06-01
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Avr mega162 bootloader IAP test
標(biāo)簽： bootloader mega test Avr
上傳時(shí)間： 2014-01-05
上傳用戶：lacsx
簡單的議程管理的小實(shí)驗(yàn),包含可運(yùn)行BAT文件和TEST用例
標(biāo)簽： TEST BAT 實(shí)驗(yàn) 運(yùn)行
上傳時(shí)間： 2014-12-08
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usb control test by java ,very userfu
標(biāo)簽： control userfu test java
上傳時(shí)間： 2016-06-04
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this a test hello how are you
標(biāo)簽： hello this test are
上傳時(shí)間： 2016-06-05
上傳用戶：xfbs821
This article descrice how to use unnecessary I／O in the 51MCU to test the temperature, circuit is simple.
標(biāo)簽： temperature unnecessary the descrice
上傳時(shí)間： 2016-06-11
上傳用戶：13517191407
linux unix test dd linux unix test
標(biāo)簽： linux unix test dd
上傳時(shí)間： 2014-01-21
上傳用戶：cxl274287265
S3C2410 FIQ, Priority Interrupt Test
標(biāo)簽： Interrupt Priority S3C2410 Test
上傳時(shí)間： 2016-06-15
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External interrupt test
標(biāo)簽： interrupt External test
上傳時(shí)間： 2013-12-03
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S3C2410 Test Main Menu
標(biāo)簽： S3C2410 Main Menu Test
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