本文件包含了離散半導(dǎo)體元件(如晶體管,二極管等)最低應(yīng)力測(cè)試要求的定義和參考測(cè)試條件.使用本文件并不是要解除供應(yīng)商對(duì)自己內(nèi)部認(rèn)證項(xiàng)目的責(zé)任性,此外此文件并不《基于離散半導(dǎo)體元件應(yīng)力測(cè)試認(rèn)證的失效機(jī)理》本文件包含了離散半導(dǎo)體元件(如晶體管,二極管等)最低應(yīng)力測(cè)試要求的定義和參考測(cè)試條件.使用本文件并不是要解除供應(yīng)商對(duì)自己內(nèi)部認(rèn)證項(xiàng)目的責(zé)任性,此外此文件并不解除供應(yīng)商滿(mǎn)足本文件范圍外的任何文件需求。其中的使用者被定義為所有按照規(guī)格書(shū)使用其認(rèn)證器件的客戶(hù),客戶(hù)有責(zé)任去證實(shí)確認(rèn)所有的認(rèn)證數(shù)據(jù)與本文件相一致。此規(guī)範(fàn)的目的是要確定一種器件在應(yīng)用中能夠通過(guò)應(yīng)力測(cè)試以及被認(rèn)為能夠提供某種級(jí)別的品質(zhì)和可靠性。
標(biāo)簽:
aec_q101
上傳時(shí)間:
2022-07-27
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