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  • 模擬集成電路三本圣經之一 拉扎維 第二版Design of Analog CMOS Integrated circuits(英文版)

    模擬CMOS IC 設計的最基本的三本書之一,另外兩本是Allen和Gray的,當然也有人把Sansen的稱為第四本。總之學習模擬集成電路必看的三本書。Design of Analog CMOS Integrated circuits

    標簽: 模擬電路

    上傳時間: 2022-04-17

    上傳用戶:kent

  • 模擬電路的世界級設計 Analog circuits World Class Designs

    Analog circuits World Class Designs:(模擬電路的世界級設計)

    標簽: 模擬電路

    上傳時間: 2022-07-21

    上傳用戶:

  • 基于FPGA動態重構的故障容錯技術.rar

    可重構計算技術兼具通用處理器(General-Purpose Processor,GPP)和專用集成電路(Application Specific Integr—ated circuits,ASIC)的特點,既可以提供硬件高速的特性,又具有軟件可以重新配置的特性。而動態部分可重構技術是可重構計算技術的最新進展之一。該技術的要點就是在系統正常工作的情況下,修改部分模塊的功能,而系統其它模塊能夠照常運行,這樣既節約硬件資源,又增強了系統靈活性。 可重構SoC既可以在處理器上進行編程又可以改變FPGA內部的硬件結構,這使得SoC系統既具有處理器善于控制和運算的特點,又具FPGA靈活的重構特點;由于處理器和FPGA硬件是在同一塊硅片上,使得它們之間的通信寬帶大大提高,這種平臺很適合于容錯算法的實現。 本文基于863計劃項目;動態重構計算機的可信實現關鍵技術,重點研究應用于惡劣環境中FPGA自我容錯的體系結構,提出了一套完整的SoC系統的容錯設計方案,并研究其實現技術,設計實現了實現該技術的硬件平臺和軟件算法,并驗證成功。 論文取得了如下的創新性研究成果: 1、設計了實現動態重構技術的硬件平臺,包括高性能的FPGA(內含入式處理器PowcrPC)、PROM、SRAM、FLASH、串口通信等硬件模塊。 2、說明了動態重構技術的設計規范和設計流程,實現動態重構技術。 3、提出了一種基于動態重構實現容錯的方法,不需要外部處理器干預,由嵌入式處理器負責管理整個過程。 4、設計并實現了嵌入式處理器運行時需要的軟件,主要有兩個功能,首先是從CF卡中讀入重構所需的配置文件,并將配置文件寫進FPGA內部的配置存儲器中,改變FPGA內部的功能。其次,是實現容錯技術的算法。

    標簽: FPGA 動態 容錯技術

    上傳時間: 2013-04-24

    上傳用戶:edrtbme

  • 基于FPGAHDL的隨機讀寫I2C串行總線接口電路設計.rar

    I2C(Inter Integrated circuits)是Philips公司開發的用于芯片之間連接的串行總線,以其嚴格的規范、卓越的性能、簡便的操作和眾多帶I2C接口的外圍器件而得到廣泛的應用并受到普遍的歡迎。 現場可編程門陣列(FPGA)設計靈活、速度快,在數字專用集成電路的設計中得到了廣泛的應用。本論文主要討論了如何利用Verilog/FPGA來實現一個隨機讀/寫的I2C接口電路,實現與外圍I2C接口器件E2PROM進行數據通信,實現讀、寫等功能,傳輸速率實現為100KBps。在Modelsim6.0仿真軟件環境中進行仿真,在Xilinx公司的ISE9.li開發平臺上進行了下載,搭建外圍電路,用Agilem邏輯分析儀進行數據采集,分析測試結果。 首先,介紹了微電子設計的發展概況以及設計流程,重點介紹了HDL/FPGA的設計流程。其次,對I2C串行總線進行了介紹,重點說明了總線上的數據傳輸格式并對所使用的AT24C02 E2PROM存儲器的讀/寫時序作了介紹。第三,基于Verilog _HDL設計了隨機讀/寫的I2C接口電路、測試模塊和顯示電路;接口電路由同步有限狀態機(FSM)來實現;測試模塊首先將數據寫入到AT24C02的指定地址,接著將寫入的數據讀出,并將兩個數據顯示在外圍LED數碼管和發光二極管上,從而直觀地比較寫入和輸出的數據的正確性。FPGA下載芯片為Xilinx SPARTAN Ⅲ XC3S200。第四,用Agilent邏輯分析儀進行傳輸數據的采集,分析數據傳輸的時序,從而驗證電路設計的正確性。最后,論文對所取得的研究成果進行了總結,并展望了下一步的工作。

    標簽: FPGAHDL I2C 隨機

    上傳時間: 2013-06-27

    上傳用戶:liuchee

  • FPGA測試方法研究.rar

    FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前廣泛使用的一種可編程器件,FPGA的出現使得ASIC(Application Specific Integrated circuits)產品的上市周期大大縮短,并且節省了大量的開發成本。目前FPGA的功能越來越強大,滿足了目前集成電路發展的新需求,但是其結構同益復雜,規模也越來越大,內部資源的種類也R益豐富,但同時也給測試帶來了困難,FPGA的發展對測試的要求越來越高,對FPGA測試的研究也就顯得異常重要。 本文的主要工作是提出一種開關盒布線資源的可測性設計,通過在FPGA內部加入一條移位寄存器鏈對開關盒進行配置編程,使得開關盒布線資源測試時間和測試成本減少了99%以上,而且所增加的芯片面積僅僅在5%左右,增加的邏輯資源對FPGA芯片的使用不會造成任何影響,這種方案采用了小規模電路進行了驗證,取得了很好的結果,是一種可行的測試方案。 本文的另一工作是采用一種FPGA邏輯資源的測試算法對自主研發的FPGA芯片FDP250K的邏輯資源進行了嚴格、充分的測試,從FPGA最小的邏輯單元LC開始,首先得到一個LC的測試配置,再結合SLICE內部兩個LC的連接關系得到一個SLICE邏輯單元的4種測試配置,并且采用陣列化的測試方案,同時測試芯片內部所有的邏輯單元,使得FPGA內部的邏輯資源得完全充分的測試,測試的故障覆蓋率可達100%,測試配置由配套編程工具產生,測試取得了完滿的結果。

    標簽: FPGA 測試 方法研究

    上傳時間: 2013-06-11

    上傳用戶:唐僧他不信佛

  • 隨機讀寫I2C串行總線接口電路設計

    I2C(Inter Integrated circuits)是Philips公司開發的用于芯片之間連接的串行總線,以其嚴格的規范、卓越的性能、簡便的操作和眾多帶I2C接口的外圍器件而得到廣泛的應用并受到普遍的歡迎。 現場可編程門陣列(FPGA)設計靈活、速度快,在數字專用集成電路的設計中得到了廣泛的應用。本論文主要討論了如何利用Verilog/FPGA來實現一個隨機讀/寫的I2C接口電路,實現與外圍I2C接口器件E2PROM進行數據通信,實現讀、寫等功能,傳輸速率實現為100KBps。在Modelsim6.0仿真軟件環境中進行仿真,在Xilinx公司的ISE9.li開發平臺上進行了下載,搭建外圍電路,用Agilem邏輯分析儀進行數據采集,分析測試結果。 首先,介紹了微電子設計的發展概況以及設計流程,重點介紹了HDL/FPGA的設計流程。其次,對I2C串行總線進行了介紹,重點說明了總線上的數據傳輸格式并對所使用的AT24C02 E2PROM存儲器的讀/寫時序作了介紹。第三,基于Verilog _HDL設計了隨機讀/寫的I2C接口電路、測試模塊和顯示電路;接口電路由同步有限狀態機(FSM)來實現;測試模塊首先將數據寫入到AT24C02的指定地址,接著將寫入的數據讀出,并將兩個數據顯示在外圍LED數碼管和發光二極管上,從而直觀地比較寫入和輸出的數據的正確性。FPGA下載芯片為Xilinx SPARTAN Ⅲ XC3S200。第四,用Agilent邏輯分析儀進行傳輸數據的采集,分析數據傳輸的時序,從而驗證電路設計的正確性。最后,論文對所取得的研究成果進行了總結,并展望了下一步的工作。

    標簽: I2C 隨機 讀寫 串行總線接口

    上傳時間: 2013-06-08

    上傳用戶:再見大盤雞

  • FPGA測試方法研究

    FPGA(Field Programmable Gate Arrays)是目前廣泛使用的一種可編程器件,FPGA的出現使得ASIC(Application Specific Integrated circuits)產品的上市周期大大縮短,并且節省了大量的開發成本。目前FPGA的功能越來越強大,滿足了目前集成電路發展的新需求,但是其結構同益復雜,規模也越來越大,內部資源的種類也R益豐富,但同時也給測試帶來了困難,FPGA的發展對測試的要求越來越高,對FPGA測試的研究也就顯得異常重要。 本文的主要工作是提出一種開關盒布線資源的可測性設計,通過在FPGA內部加入一條移位寄存器鏈對開關盒進行配置編程,使得開關盒布線資源測試時間和測試成本減少了99%以上,而且所增加的芯片面積僅僅在5%左右,增加的邏輯資源對FPGA芯片的使用不會造成任何影響,這種方案采用了小規模電路進行了驗證,取得了很好的結果,是一種可行的測試方案。 本文的另一工作是采用一種FPGA邏輯資源的測試算法對自主研發的FPGA芯片FDP250K的邏輯資源進行了嚴格、充分的測試,從FPGA最小的邏輯單元LC開始,首先得到一個LC的測試配置,再結合SLICE內部兩個LC的連接關系得到一個SLICE邏輯單元的4種測試配置,并且采用陣列化的測試方案,同時測試芯片內部所有的邏輯單元,使得FPGA內部的邏輯資源得完全充分的測試,測試的故障覆蓋率可達100%,測試配置由配套編程工具產生,測試取得了完滿的結果。

    標簽: FPGA 測試 方法研究

    上傳時間: 2013-06-29

    上傳用戶:Thuan

  • [測試書籍]ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL, MEMORY AND&nb

    ·[測試書籍]ESSENTIALS OF ELECTRONIC TESTING FOR DIGITAL, MEMORY AND MIXED-SIGNAL VLSI circuits 

    標簽: nbsp ESSENTIALS ELECTRONIC DIGITAL

    上傳時間: 2013-07-21

    上傳用戶:euroford

  • 關于FPGA流水線設計的論文

    關于FPGA流水線設計的論文\r\nThis work investigates the use of very deep pipelines for\r\nimplementing circuits in FPGAs, where each pipeline\r\nstage is limited to a single FPGA logic element (LE). The\r\narchitecture and VHDL design of a parameterized integer\r\na

    標簽: FPGA 流水線 論文

    上傳時間: 2013-09-03

    上傳用戶:wl9454

  • [模擬和數字電子電路基礎].Agarwal.&.Lang.(2005).Foundations.of.Analog.and.Digital.Electronic.circuits

    模擬和數字電子電路基礎

    標簽: Foundations Electronic circuits Agarwal

    上傳時間: 2013-11-15

    上傳用戶:fdfadfs

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