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IEEE JSSC論文(1960~2005).part036.rar

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標(biāo)簽： IEEE 1960 2005 JSSC

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上傳用戶：gaojiao1999
IEEE JSSC論文(1960~2005).part008.rar

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IEEE JSSC論文(1960~2005).part020.rar

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IEEE JSSC論文(1960~2005).part012.rar

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上傳用戶：宋桃子
IEEE JSSC論文(1960~2005).part018.rar

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上傳時(shí)間： 2013-05-22

上傳用戶：四只眼
非常經(jīng)典的循環(huán)冗余校驗(yàn)碼IEEE文章

非常經(jīng)典的循環(huán)冗余校驗(yàn)碼IEEE文章。。

標(biāo)簽： IEEE 循環(huán)冗余校驗(yàn)碼

上傳時(shí)間： 2013-08-09

上傳用戶：黃蛋的蛋黃
信號處理FPGA實(shí)現(xiàn)參考,IEEE transaction 的一篇文章

信號處理FPGA實(shí)現(xiàn)參考,IEEE transaction 的一篇文章。主要針對信號處理中加窗、FFT、VSLI快速實(shí)現(xiàn)中誤差地等問題。

標(biāo)簽： transaction FPGA IEEE 信號處理

上傳時(shí)間： 2013-08-12

上傳用戶：奇奇奔奔
On the design of an FPGA-Based OFDM modulator for IEEE 802.11a

On the design of an FPGA-Based OFDM modulator for IEEE 802.11a

標(biāo)簽： FPGA-Based modulator 802.11 design

上傳時(shí)間： 2013-09-02

上傳用戶：zjwangyichao
p-n結(jié)的隧道擊穿模型研究

在理論模型的基礎(chǔ)上探討了電子勢壘的形狀以及勢壘形狀隨外加電壓的變化, 并進(jìn)行定量計(jì)算, 得出隧穿電壓隨雜質(zhì)摻雜濃度的變化規(guī)律。所得結(jié)論與硅、鍺p-n 結(jié)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)相吻合, 證明了所建立的理論模型在定量研究p-n 結(jié)的隧道擊穿中的合理性與實(shí)用性。該理論模型對研究一般材料或器件的隧道擊穿具有重要的借鑒意義。

標(biāo)簽： p-n 隧道擊穿模型研究

上傳時(shí)間： 2013-10-31

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PLCC-44 封裝尺寸圖P-44A

PLCC-44 封裝尺寸圖P-44A

標(biāo)簽： PLCC 44 封裝尺寸

上傳時(shí)間： 2013-11-13

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