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B樣條曲線生成程序,HHT插件等。rilling版本

B樣條曲線生成程序,HHT插件等。rilling版本，供大家參考學(xué)習(xí)。

標(biāo)簽： rilling HHT 程序插件

上傳時間： 2014-01-02

上傳用戶：ippler8
pcf project dds sdfsd sdcsc sdcsc sdxcs gh fgb dfv fdgbvfg b fg fb fgbv gbfbf s bgtb fgbfv b fbv

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標(biāo)簽： sdcsc fdgbvfg project fgbfv

上傳時間： 2014-12-19

上傳用戶：xwd2010
基于XML－J2EE、C/S與B/S混合結(jié)構(gòu)的電子商務(wù)智能管理信息系統(tǒng)應(yīng)用研究

基于XML－J2EE、C/S與B/S混合結(jié)構(gòu)的電子商務(wù)智能管理信息系統(tǒng)應(yīng)用研究

標(biāo)簽： J2EE XML 電子商務(wù) 智能管理

上傳時間： 2017-07-22

上傳用戶：1427796291
how to finding the best way from A to B

how to finding the best way from A to B

標(biāo)簽： finding best from to

上傳時間： 2013-12-19

上傳用戶：zhouli
成績查詢,b包括界面和代碼

成績查詢,b包括界面和代碼，用于學(xué)生成績管理系統(tǒng)的成績查詢

標(biāo)簽： 查詢代碼

上傳時間： 2017-07-27

上傳用戶：caiiicc
c程序設(shè)計語言（第二版）版B.W.Kernighan、D.M.Ritchie 著

c程序設(shè)計語言（第二版）版B.W.Kernighan、D.M.Ritchie 著

標(biāo)簽： Kernighan Ritchie 程序設(shè)計語言

上傳時間： 2014-01-24

上傳用戶：athjac
C++ Primer, Fourth Edition By Stanley B. Lippman, Josée Lajoie, Barbara E. Moo .................

C++ Primer, Fourth Edition By Stanley B. Lippman, Josée Lajoie, Barbara E. Moo ............................................... Publisher: Addison Wesley Professional Pub Date: February 14, 2005 Print ISBN: 0-201-72148-1 Pages: 912

標(biāo)簽： B. E. Edition Barbara

上傳時間： 2017-08-02

上傳用戶：yxgi5
TLC5620 DAC轉(zhuǎn)換實驗程序該實驗程序使用TLC5620中A、B、C、D四個通道中的前兩個通道分別輸出周期相等、幅度均為3.3V的三角波和方波

TLC5620 DAC轉(zhuǎn)換實驗程序該實驗程序使用TLC5620中A、B、C、D四個通道中的前兩個通道分別輸出周期相等、幅度均為3.3V的三角波和方波，5620的輸出經(jīng)過LM358雙運方的反相跟隨后增強(qiáng)了帶負(fù)載能力并且使得輸出的信號電壓位于-3.3V～0V之間，起到了模擬反相的作用。在程序中，RNG位的置位使得輸出幅度增加一倍。

標(biāo)簽： 5620 TLC 3.3 DAC

上傳時間： 2017-08-03

上傳用戶：lindor
簡易數(shù)字頻率計--描述了97年電子設(shè)計大賽中B題的一些思路和方法。

簡易數(shù)字頻率計--描述了97年電子設(shè)計大賽中B題的一些思路和方法。

標(biāo)簽： 數(shù)字頻率計電子設(shè)計大賽

上傳時間： 2013-11-28

上傳用戶：xaijhqx
一些國內(nèi)和國外的標(biāo)準(zhǔn)。包含有：電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A 低溫試驗方法、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B 高溫試驗方法、電子測量儀器質(zhì)量檢驗規(guī)則等和SAE的一些標(biāo)準(zhǔn)

一些國內(nèi)和國外的標(biāo)準(zhǔn)。包含有：電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A 低溫試驗方法、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B 高溫試驗方法、電子測量儀器質(zhì)量檢驗規(guī)則等和SAE的一些標(biāo)準(zhǔn)

標(biāo)簽： SAE 標(biāo)準(zhǔn) 電工電子產(chǎn)品

上傳時間： 2014-10-28

上傳用戶：yzhl1988

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