cordic IC implement for fast cordic calculate. Including test bench. feature: 1. slicon proved. 2. support angle recored algorithm.
標(biāo)簽： cordic calculate Including implement
上傳時(shí)間： 2017-01-06
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CRTUG gsm FTA test spec case list ,please confrence
標(biāo)簽： confrence please CRTUG case
上傳時(shí)間： 2014-01-27
上傳用戶：GHF
Bluetooth 2.0 + EDR Test Specification 左藍(lán)牙開發(fā)設(shè)計(jì)您那必須要的
標(biāo)簽： Specification Bluetooth Test 2.0
上傳時(shí)間： 2017-01-07
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test code for nandflash on lumit board,it s designed with S3C4510
標(biāo)簽： nandflash designed S3C4510 board
上傳時(shí)間： 2017-01-08
上傳用戶：sunjet
power test program for on & check, can be programed power supply
標(biāo)簽： power programed program supply
上傳時(shí)間： 2017-01-09
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linux tvp5150 driver the is ok for test
標(biāo)簽： driver linux 5150 test
上傳時(shí)間： 2017-01-19
上傳用戶：Andy123456
this is my java Test
標(biāo)簽： this Test java is
上傳時(shí)間： 2017-01-20
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北京三恒星科技公司ARM7開發(fā)板的TEST實(shí)驗(yàn)源代碼，包括源文件，資源文件以及編譯好的執(zhí)行文件
標(biāo)簽： ARM7 TEST 恒星 開發(fā)板
上傳時(shí)間： 2017-01-21
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msp430f2013與計(jì)算機(jī)通訊的例子,計(jì)算機(jī)給msp430發(fā)送信息,msp接收后返回
標(biāo)簽： msp 430 f2013 2013
上傳時(shí)間： 2014-11-30
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Samsung S3C2440A SOC RISC Microprocessor test program that demonstrates how to code most peripherals on the chip.
標(biāo)簽： Microprocessor demonstrates peripherals S3C2440A
上傳時(shí)間： 2013-12-20
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