test for boundary scan and CPLD ics.
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test-Driven技術資料
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這篇文章主要介紹ARM JTAG調試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎上，結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG調試原理。...
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