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可測性設(shè)(shè)計

  • clock_spliter 採用彈性設(shè)計 , 可調(diào)整週期寬度.

    clock_spliter 採用彈性設(shè)計 , 可調(diào)整週期寬度.

    標簽： clock_spliter

    上傳時間： 2013-12-27

    上傳用戶：TF2015

  • 德州儀器新款DSP TMS320C2834X 晶片 SCI 自動 BAUD 偵測程式設(shè)計.

    德州儀器新款DSP TMS320C2834X 晶片 SCI 自動 BAUD 偵測程式設(shè)計.

    標簽： 2834X C2834 2834 320C

    上傳時間： 2013-12-01

    上傳用戶：ayfeixiao

  • SMT印制電路板的可制造性設(shè)計與審核 ppt

    SMT印制電路板的可制造性設(shè)計與審核 ppt

    標簽： SMT 印制電路板 可制造性

    上傳時間： 2013-06-27

    上傳用戶：eeworm

  • GB-T4677.10-1984 印制板可焊性測試方法

    GB-T4677.10-1984 印制板可焊性測試方法

    標簽： 4677.10 GB-T 1984 印制板

    上傳時間： 2013-04-15

    上傳用戶：eeworm

  • SMT印制電路板的可制造性設(shè)計與審核-296頁-8.9M-ppt.rar

    專輯類----PCB及CAD相關(guān)資料專輯 SMT印制電路板的可制造性設(shè)計與審核-296頁-8.9M-ppt.rar

    標簽： M-ppt SMT 296 8.9

    上傳時間： 2013-05-30

    上傳用戶：wsh1985810

  • SMT印制電路板的可制造性設(shè)計與審核-296頁-8.9M-ppt.ppt

    專輯類-PCB及CAD相關(guān)資料專輯-174冊-3.19G SMT印制電路板的可制造性設(shè)計與審核-296頁-8.9M-ppt.ppt

    標簽： M-ppt SMT 296 8.9

    上傳時間： 2013-08-01

    上傳用戶：wyaqy

  • 基于FPGA的可測性設(shè)計方法研究

    現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)是一種現(xiàn)場可編程專用集成電路，它將門陣列的通用結(jié)構(gòu)與現(xiàn)場可編程的特性結(jié)合于一體，如今，F(xiàn)PGA系列器件已成為最受歡迎的器件之一。隨著FPGA器件的廣泛應用，它在數(shù)字系統(tǒng)中的作用日益變得重要，它所要求的準確性也變得更高。因此，對FPGA器件的故障測試和故障診斷方法進行更全面的研究具有重要意義。隨著FPGA器件的迅速發(fā)展，F(xiàn)PGA的密度和復雜程度也越來越高，使大量的故障難以使用傳統(tǒng)方法進行測試，所以人們把視線轉(zhuǎn)向了可測性設(shè)計(DFT)問題。可測性設(shè)計的提出為解決測試問題開辟了新的有效途徑，而邊界掃描測試方法是其中一個重要的技術(shù)。 本文對FPGA的故障模型及其測試技術(shù)和邊界掃描測試的相關(guān)理論與方法進行了詳細的探討，給出了利用布爾矩陣理論建立的邊界掃描測試過程的數(shù)學描述和數(shù)學模型。論文中首先討論邊界掃描測試中的測試優(yōu)化問題，總結(jié)解決兩類優(yōu)化問題的現(xiàn)有算法，分別對它們的優(yōu)缺點進行了對比，進而提出對兩種現(xiàn)有算法的改進思想，并且比較了改進前后優(yōu)化算法的性能。另外，本文還對FPGA連線資源中基于邊界掃描測試技術(shù)的自適應完備診斷算法進行了深入研究。在研究過程中，本文基于自適應完備診斷的思想對原有自適應診斷算法的性能進行了分析，并將獨立測試集和測試矩陣的概念引入原有自適應診斷算法中，使改進后的優(yōu)化算法能夠簡化原算法的實現(xiàn)過程，并實現(xiàn)完備診斷的目標。最后利用測試仿真模型證明了優(yōu)化算法能夠更有效地實現(xiàn)完備診斷的目標，在緊湊性指標與測試復雜性方面比現(xiàn)在算法均有所改進，實現(xiàn)了算法的優(yōu)化。

    標簽： FPGA 可測性設(shè)計 方法研究

    上傳時間： 2013-06-30

    上傳用戶：不挑食的老鼠

  • PCB可制造性設(shè)計

    在pcb設(shè)計中，對于可制造性設(shè)計需要認真對待，值得大家學習

    標簽： PCB 可制造性

    上傳時間： 2013-06-07

    上傳用戶：dialouch

  • 數(shù)字集成電路與嵌入式內(nèi)核系統(tǒng)可測試性設(shè)計（影印版）

    ·書中包括的索引使你能夠根據(jù)自己的需要，直接閱讀你所關(guān)注的內(nèi)容。主要內(nèi)容包括：設(shè)計核心，關(guān)注嵌入核心和嵌入存儲器；系統(tǒng)集成和超大規(guī)模集成電路的設(shè)計問題；AC掃描、正常速度掃描和嵌入式可測試性設(shè)計；內(nèi)建、自測試、含內(nèi)存BIST、邏輯BIST及掃描BIST；虛擬測試套接字和隔離測試 ·重用設(shè)計，包括重用和隔離測試；用VSIA和IEEE P1500標準處理測試問題。 書中穿插的整幅圖解直接來自作者的教學材

    標簽： 數(shù)字集成電路 嵌入式 內(nèi)核

    上傳時間： 2013-04-24

    上傳用戶：sjb555

  • FPGA和DSP的設(shè)計可靠性及可維護性對比

    FPGA和DSP的設(shè)計可靠性及可維護性對比.pdf

    標簽： FPGA DSP 可靠性 對比

    上傳時間： 2013-08-28

    上傳用戶：pei5

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