中華學(xué)習(xí)機(jī)數(shù)據(jù)處理
標(biāo)簽： 數(shù)據(jù)處理
上傳時間： 2013-04-15
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試驗設(shè)計與數(shù)據(jù)處理
標(biāo)簽： 試驗設(shè)計 數(shù)據(jù)處理
上傳時間： 2013-07-14
專輯類-實用電子技術(shù)專輯-385冊-3.609G 試驗設(shè)計與數(shù)據(jù)處理-255頁-5.1M.pdf
標(biāo)簽： 255 5.1 試驗設(shè)計
上傳時間： 2013-04-24
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刀具狀態(tài)的精確監(jiān)測是保證金屬切削加工過程順利進(jìn)行的關(guān)鍵，因此研制準(zhǔn)確、可靠且成本低廉的刀具狀態(tài)監(jiān)測系統(tǒng)一直是研究人員所追求的目標(biāo)。在眾多刀具狀態(tài)監(jiān)測方法中，聲發(fā)射監(jiān)測技術(shù)，以其信號直接來源于切削區(qū)，具有靈敏度高、響應(yīng)快，能有效避開低頻干擾等優(yōu)點，非常適用于刀具狀態(tài)監(jiān)測。 圍繞如何獲取高信噪比的刀具狀態(tài)信號特征，擬結(jié)合嵌入式技術(shù)，構(gòu)建準(zhǔn)確、穩(wěn)定、低成本的實時刀具狀態(tài)監(jiān)測與辨識系統(tǒng)。給出了基于ARM& WinCE平臺的刀具狀態(tài)監(jiān)測系統(tǒng)數(shù)據(jù)處理平臺軟硬件初步解決方案。作為課題的前期研究本文主要進(jìn)行了以下工作： （1）分析了聲發(fā)射信號與刀具磨損狀態(tài)的相關(guān)性，驗證了利用聲發(fā)射信號進(jìn)行刀具狀態(tài)監(jiān)測的可行性； （2）確定刀具狀態(tài)監(jiān)測系統(tǒng)的整體方案，包括系統(tǒng)整體架構(gòu)、軟硬件設(shè)計方案。ARM& WinCE構(gòu)成本系統(tǒng)的數(shù)據(jù)處理與顯示平臺，EVC為圖形界面應(yīng)用程序開發(fā)工具； （3）構(gòu)建了數(shù)據(jù)處理與顯示平臺。選用MagicARM2410實驗開發(fā)平臺，簡化了硬件設(shè)計；根據(jù)系統(tǒng)的功能需求，進(jìn)行ARM平臺的接口設(shè)計、操作系統(tǒng)和必要的驅(qū)動程序的剪裁及移植； （4）完成了數(shù)據(jù)處理與顯示應(yīng)用軟件設(shè)計。系統(tǒng)軟件包括界面模塊、數(shù)據(jù)管理模塊、數(shù)據(jù)處理模塊、圖形及結(jié)果顯示模塊、參數(shù)設(shè)置模塊等，其中數(shù)據(jù)處理模塊主要包括小波消噪、小波包分解特征提取等算法； （5）實現(xiàn)了ARM& WinCE平臺與PC機(jī)的實時可靠通訊。
標(biāo)簽： WinCE ARM 刀具 狀態(tài)監(jiān)測
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在諸多行業(yè)的材料及材料制成品中，表面缺陷是影響產(chǎn)品質(zhì)量的重要因素之一。研究具有顯微圖像實時記錄、處理和顯示功能的材料表面缺陷檢測技術(shù)，對材料的分選和材料質(zhì)量的檢查及評價具有重要的意義。 本文以聚合物薄膜材料為被測對象，研究了適用于材料表面缺陷檢測的基于現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)的缺陷數(shù)據(jù)實時處理技術(shù)，可實時提供缺陷顯微圖像信息，完成了對現(xiàn)有材料缺陷檢測裝置的數(shù)字化改造與性能擴(kuò)展。本文利用FPGA并行結(jié)構(gòu)、運算速度快的特點實現(xiàn)了材料缺陷的實時檢測。搭建了以FPGA為核心的缺陷數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的硬件電路；重點針對聚合物薄膜材料缺陷信號的數(shù)據(jù)特征，設(shè)計了基于FPGA的缺陷圖像預(yù)處理方案：首先對通過CCD獲得的聚合物薄膜材料的缺陷信號進(jìn)行處理，利用動態(tài)閾值定位缺陷區(qū)域，將高于閾值的數(shù)據(jù)即圖像背景信息舍棄，保留低于閾值的數(shù)據(jù)，即完整保留缺陷顯微圖像的有用信息；然后按照預(yù)先設(shè)計的封裝格式封裝缺陷數(shù)據(jù)；最后通過USB2.0接口將封裝數(shù)據(jù)傳輸至上位機(jī)進(jìn)行缺陷顯微圖像重建。此方案大大減少了上傳數(shù)據(jù)量，緩解了上位機(jī)的壓力，提高了整個缺陷檢測裝置的檢測速度。本文對標(biāo)準(zhǔn)模板和聚合物薄膜材料進(jìn)行了實驗驗證。實驗結(jié)果表明，應(yīng)用了基于FPGA的缺陷數(shù)據(jù)實時處理技術(shù)的CCD掃描缺陷檢測裝置可對70μm～1000μm范圍內(nèi)的缺陷進(jìn)行有效檢測，實時重建的缺陷顯微圖像與實際缺陷在形狀和灰度上都有很好的一致性。
標(biāo)簽： CCD 缺陷檢測 實時數(shù)據(jù) 處理技術(shù)
上傳時間： 2013-05-19
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激光測距是隨著激光技術(shù)的出現(xiàn)而發(fā)展起來的一種精密測量技術(shù)，因其良好的精確度特性廣泛地應(yīng)用在軍事和民用領(lǐng)域。但傳統(tǒng)的激光測距系統(tǒng)大多采用分立的單元電路搭建而成，不僅造成了開發(fā)成本較高，電路較復(fù)雜，調(diào)試?yán)щy等諸多問題，而且這種系統(tǒng)體積和重量較大，嚴(yán)重阻礙了激光測距系統(tǒng)的普及應(yīng)用，因此近年來激光測距技術(shù)向著小型化和集成化的方向發(fā)展。本文就旨在找出一種激光測距的集成化方案，將激光接收電路部分集成為一個專用集成電路，使傳統(tǒng)的激光測距系統(tǒng)簡化成三個部分，激光器LD、接收PD和一片集成電路芯片。 本文設(shè)計的激光測距系統(tǒng)基于相位差式激光測距原理，綜合當(dāng)前所有的測相技術(shù)，提出了一種基于FPGA的芯片運用DCM的動態(tài)移相功能實現(xiàn)相位差測量的方法。該方法實現(xiàn)起來方便快捷，無需復(fù)雜的過程計算，不僅能夠達(dá)到較高的測距精度，同時可以大大簡化外圍電路的設(shè)計，使測距系統(tǒng)達(dá)到最大程度的集成化，滿足了近年來激光測距系統(tǒng)向小型化和集成化方向發(fā)展的要求，除此，該方法還可以減少環(huán)境因素對測距誤差的影響，降低測距系統(tǒng)對測試環(huán)境的要求。本論文的創(chuàng)新點有： 1.基于方波實現(xiàn)激光的調(diào)制和發(fā)射，簡化了復(fù)雜的外圍電路設(shè)計； 2.激光測距的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)在一片F(xiàn)PGA芯片上實現(xiàn)，便于系統(tǒng)的集成。 在基于DCM的激光測距方案中，本文詳細(xì)的敘述了利用DCM測相的基本原理，并給出了由相位信息得到距離信息的計算過程，然后將利用不同測尺測得的結(jié)果進(jìn)行合成，并最終將距離的二進(jìn)制信息轉(zhuǎn)換成十進(jìn)制顯示出來。本文以Xilinx公司Virtex-II Pro開發(fā)板做為開發(fā)平臺，通過編程和仿真驗證了該測距方案的可行性。在采用多次測量求平均值的情況下，該測距方案的測距精度可以達(dá)到3mm，測距量程可達(dá)100m。該方案設(shè)計新穎，可將整個的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)在FPGA芯片中實現(xiàn)，為最終的專用集成芯片的設(shè)計打下了基礎(chǔ)，有利于測距系統(tǒng)的集成單片化。
標(biāo)簽： FPGA 激光測距 數(shù)據(jù)處理
上傳時間： 2013-06-20
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本文結(jié)合目前國內(nèi)外航電數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的發(fā)展概況，設(shè)計了一款集數(shù)據(jù)采集、處理、控制及傳輸于一體的航電處理系統(tǒng)。文章首先深入研究了自適應(yīng)濾波器原理，分析了LMS算法性能，著重從影響算法性能的因素入手，通過分析仿真，改進(jìn)...
標(biāo)簽： FPGA 數(shù)據(jù)處理 傳輸系統(tǒng)
上傳時間： 2013-07-18
上傳用戶：wuyuying
本文結(jié)合目前國內(nèi)外航電數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)的發(fā)展概況，設(shè)計了一款集數(shù)據(jù)采集、處理、控制及傳輸于一體的航電處理系統(tǒng)。文章首先深入研究了自適應(yīng)濾波器原理，分析了LMS算法性能，著重從影響算法性能的因素入手，通過分析仿真，改進(jìn)算法，提升了算法性能，給出仿真結(jié)果分析，并設(shè)計應(yīng)用于系統(tǒng)之中；其次介紹了ARINC-429航空總線和RS-422串行總線的信息標(biāo)準(zhǔn)和傳輸格式。在此基礎(chǔ)上，設(shè)計了基于FPGA的解決航電系統(tǒng)數(shù)據(jù)采集、濾波處理、控制傳輸和復(fù)雜非線性運算的一體化實現(xiàn)方案。選用XILINX公司的FPGA，實現(xiàn)了航電數(shù)據(jù)采集、傳輸和控制，集成了ARlNC-429和RS-422兩種通信接口，實現(xiàn)了總線冗余，并實現(xiàn)了數(shù)據(jù)濾波和相應(yīng)的算法處理。最后，在實驗室環(huán)境下，對每個模塊分別進(jìn)行了軟硬件測試。
上傳時間： 2013-07-01
上傳用戶：R50974
匯編語言在數(shù)據(jù)處理中應(yīng)用(自學(xué))1、數(shù)值轉(zhuǎn)換中應(yīng)用 數(shù)據(jù)輸入/輸出時的轉(zhuǎn)換2、串操作中應(yīng)用 串移動、串搜索、串比較、 串插入、串刪除3、代碼轉(zhuǎn)換中應(yīng)用 ASCII碼 BCD碼 二進(jìn)數(shù) BCD碼 4、算術(shù)運算 在這一部分，我們將匯編語言在數(shù)據(jù)處理中的應(yīng)用集中起來給大家，其中有些程序在11章中已經(jīng)介紹過。
標(biāo)簽： 匯編語言 數(shù)據(jù)處理 中的應(yīng)用
上傳時間： 2013-10-23
上傳用戶：qwer0574
數(shù)據(jù)處理與控制策略Data Processing & Control Strategy數(shù)字控制器的設(shè)計技術(shù),數(shù)字濾波和數(shù)據(jù)處理,數(shù)控技術(shù)基礎(chǔ),數(shù)字PID控制算法常規(guī)控制方案,先進(jìn)控制方案,計算機(jī)控制系統(tǒng)的設(shè)計是指在給定系統(tǒng)性能指標(biāo)的條件下，設(shè)計出控制器的控制規(guī)律和相應(yīng)的數(shù)字控制算法 大多數(shù)計算機(jī)控制系統(tǒng)是由處理數(shù)字信號的過程控制計算機(jī)和連續(xù)的被控過程組成的數(shù)字信號與連續(xù)信號并存的“混合系統(tǒng)” 數(shù)字控制器的分析和設(shè)計方法數(shù)字控制器的連續(xù)化設(shè)計技術(shù)數(shù)字控制器的離散化設(shè)計技術(shù)
標(biāo)簽： 數(shù)據(jù)處理 控制策略
上傳時間： 2013-10-30
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