*** *** *** *** *** *** *** *** * USB測(cè)試程式說明 By hugang, hgx2000@mail.china.com ************************************************* 1.文件說明 Usb : PDIUSB12驅(qū)動(dòng)代碼 Src : 主程式代碼 Inc : 主程式的頭文件 Debug : SDT目標(biāo)代碼 Myusb_Data : ADS目標(biāo)代碼 Tools : PC端測(cè)試程式及驅(qū)動(dòng) Myusb.apj : SDT2.51工程文件 Myusb.mcp : ADS1.2工程文件 Myusb.PR : SourceInsight3.5工程文件
標(biāo)簽: hugang china 2000 mail
上傳時(shí)間: 2016-04-09
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zbee potocol 無線通訊測(cè)試.平臺(tái):microchip 18f452 與 cc2420 zbee 晶片.含coord端與rfd端
標(biāo)簽: zbee microchip potocol 18f452
上傳時(shí)間: 2014-01-07
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹,在此基礎(chǔ)上,結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開始,JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出,最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化,所以,IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽: JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間: 2016-08-16
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PC電源測(cè)試系統(tǒng)chroma8000簡(jiǎn)介
標(biāo)簽: chroma 8000 電源測(cè)試系統(tǒng)
上傳時(shí)間: 2013-11-08
上傳用戶:xiehao13
此為philip 1362 USB DOS下的驅(qū)動(dòng)程式包, 已經(jīng)共測(cè)試並內(nèi)含有說明文件
標(biāo)簽: philip 1362 USB DOS
上傳時(shí)間: 2015-04-21
上傳用戶:bruce
簡(jiǎn)單的串列埠自我測(cè)試持式 測(cè)試硬體電路是否正確
標(biāo)簽: 正
上傳時(shí)間: 2015-04-25
上傳用戶:FreeSky
Linux下的voip通信終端軟件,common目綠為多媒體開發(fā)包,主要提供內(nèi)存mbus,md5,hmac,網(wǎng)絡(luò)接口方面的函數(shù).rat為主要的函數(shù)集.
標(biāo)簽: common Linux voip mbus
上傳時(shí)間: 2015-04-28
上傳用戶:songnanhua
使用J2ME MIDP2.0實(shí)做AODV協(xié)定(RFC3561),測(cè)試平臺(tái)為兩種PDA:PalmOS和PacketPC2003
標(biāo)簽: PacketPC PalmOS J2ME AODV
上傳時(shí)間: 2014-09-03
上傳用戶:shawvi
GSMGPRSRFORUM相關(guān)信息測(cè)試與結(jié)過
標(biāo)簽: GSMGPRSRFORUM
上傳時(shí)間: 2015-05-20
上傳用戶:jqy_china
這是一篇介紹藍(lán)芽收發(fā)器IC測(cè)試的相關(guān)文章,蠻有用的文章
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上傳時(shí)間: 2013-12-14
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