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誤差測(cè)(cè)量

  • 交叉耦合控制(cross-coupling control)對(duì)誤差的影響

    交叉耦合控制(cross-coupling control)對(duì)誤差的影響

    標(biāo)簽: cross-coupling control 交叉耦合 控制

    上傳時(shí)間: 2013-12-25

    上傳用戶(hù):rishian

  • 三軸伺服馬達(dá)控制程式利用軟體DDA方式讀回目前位置然後以取樣時(shí)間計(jì)算出下一點(diǎn)位置取誤差後利用DA將命令電壓送出做三軸控制

    三軸伺服馬達(dá)控制程式利用軟體DDA方式讀回目前位置然後以取樣時(shí)間計(jì)算出下一點(diǎn)位置取誤差後利用DA將命令電壓送出做三軸控制

    標(biāo)簽: DDA 控制 伺服 命令

    上傳時(shí)間: 2017-04-02

    上傳用戶(hù):firstbyte

  • 一篇來(lái)自臺(tái)灣中華大學(xué)的論文--《無(wú)線(xiàn)射頻系統(tǒng)標(biāo)簽晶片設(shè)計(jì)》

    一篇來(lái)自臺(tái)灣中華大學(xué)的論文--《無(wú)線(xiàn)射頻系統(tǒng)標(biāo)簽晶片設(shè)計(jì)》,彩色版。其摘要為:本論文討論使用於無(wú)線(xiàn)射頻辨識(shí)系統(tǒng)(RFID)之標(biāo)籤晶片系統(tǒng)的電路設(shè)計(jì)和晶片製作,初步設(shè)計(jì)標(biāo)籤晶片的基本功能,設(shè)計(jì)流程包含數(shù)位軟體及功能的模擬、基本邏輯閘及類(lèi)比電路的設(shè)計(jì)與晶片電路的佈局考量。 論文的第一部份是序論、射頻辨識(shí)系統(tǒng)的規(guī)劃、辨識(shí)系統(tǒng)的規(guī)格介紹及制定,而第二部份是標(biāo)籤晶片設(shè)計(jì)、晶片量測(cè)、結(jié)論。 電路的初步設(shè)計(jì)功能為:使用電容作頻率緩衝的Schmitt trigger Clock、CRC-16的錯(cuò)誤偵測(cè)編碼、Manchester編碼及使用單一電路做到整流、振盪及調(diào)變的功能,最後完成晶片的實(shí)作。

    標(biāo)簽: 大學(xué) 論文 無(wú)線(xiàn)射頻

    上傳時(shí)間: 2016-08-27

    上傳用戶(hù):tb_6877751

  • 聚合物量熱分析

    介紹了聚合物熱分析的原理和各類(lèi)應(yīng)用,著重介紹差示掃描量熱法和調(diào)制式差示掃描量熱法。

    標(biāo)簽: 聚合物熱分析

    上傳時(shí)間: 2015-04-17

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  • ARK-8017DHI 16位8路差分模擬量輸入模塊

    為提高產(chǎn)品的可靠性、設(shè)計(jì)和功能,本文所有信息若有變更,恕不提前通知。本文信息也不作為廠(chǎng)商的任何承諾。 任何情況下,包括已警告了的各種損壞的可能性,廠(chǎng)商均不負(fù)責(zé)直接的、非直接的、特殊的或偶然的因不正當(dāng)使用本產(chǎn)品或文件所造成的損壞。 本文包含受版權(quán)保護(hù)的信息,版權(quán)所有。未經(jīng)廠(chǎng)商書(shū)面同意,不得以機(jī)械的、電子的或其它任何方式進(jìn)行復(fù)制。

    標(biāo)簽: 8017 ARK DHI 8路

    上傳時(shí)間: 2013-10-14

    上傳用戶(hù):壞壞的華仔

  • 模塊電源功能性參數(shù)指標(biāo)及測(cè)試方法

      模塊電源的電氣性能是通過(guò)一系列測(cè)試來(lái)呈現(xiàn)的,下列為一般的功能性測(cè)試項(xiàng)目,詳細(xì)說(shuō)明如下: 電源調(diào)整率(Line Regulation) 負(fù)載調(diào)整率(Load Regulation) 綜合調(diào)整率(Conmine Regulation) 輸出漣波及雜訊(Ripple & Noise) 輸入功率及效率(Input Power, Efficiency) 動(dòng)態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載(Dynamic or Transient Response) 起動(dòng)(Set-Up)及保持(Hold-Up)時(shí)間 常規(guī)功能(Functions)測(cè)試 1. 電源調(diào)整率   電源調(diào)整率的定義為電源供應(yīng)器于輸入電壓變化時(shí)提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。測(cè)試步驟如下:于待測(cè)電源供應(yīng)器以正常輸入電壓及負(fù)載狀況下熱機(jī)穩(wěn)定后,分別于低輸入電壓(Min),正常輸入電壓(Normal),及高輸入電壓(Max)下測(cè)量并記錄其輸出電壓值。 電源調(diào)整率通常以一正常之固定負(fù)載(Nominal Load)下,由輸入電壓變化所造成其輸出電壓偏差率(deviation)的百分比,如下列公式所示:   [Vo(max)-Vo(min)] / Vo(normal) 2. 負(fù)載調(diào)整率   負(fù)載調(diào)整率的定義為開(kāi)關(guān)電源于輸出負(fù)載電流變化時(shí),提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。測(cè)試步驟如下:于待測(cè)電源供應(yīng)器以正常輸入電壓及負(fù)載狀況下熱機(jī)穩(wěn)定后,測(cè)量正常負(fù)載下之輸出電壓值,再分別于輕載(Min)、重載(Max)負(fù)載下,測(cè)量并記錄其輸出電壓值(分別為Vo(max)與Vo(min)),負(fù)載調(diào)整率通常以正常之固定輸入電壓下,由負(fù)載電流變化所造成其輸出電壓偏差率的百分比,如下列公式所示:   [Vo(max)-Vo(min)] / Vo(normal)    3. 綜合調(diào)整率   綜合調(diào)整率的定義為電源供應(yīng)器于輸入電壓與輸出負(fù)載電流變化時(shí),提供其穩(wěn)定輸出電壓的能力。這是電源調(diào)整率與負(fù)載調(diào)整率的綜合,此項(xiàng)測(cè)試系為上述電源調(diào)整率與負(fù)載調(diào)整率的綜合,可提供對(duì)電源供應(yīng)器于改變輸入電壓與負(fù)載狀況下更正確的性能驗(yàn)證。 綜合調(diào)整率用下列方式表示:于輸入電壓與輸出負(fù)載電流變化下,其輸出電壓之偏差量須于規(guī)定之上下限電壓范圍內(nèi)(即輸出電壓之上下限絕對(duì)值以?xún)?nèi))或某一百分比界限內(nèi)。 4. 輸出雜訊   輸出雜訊(PARD)系指于輸入電壓與輸出負(fù)載電流均不變的情況下,其平均直流輸出電壓上的周期性與隨機(jī)性偏差量的電壓值。輸出雜訊是表示在經(jīng)過(guò)穩(wěn)壓及濾波后的直流輸出電壓上所有不需要的交流和噪聲部份(包含低頻之50/60Hz電源倍頻信號(hào)、高于20 KHz之高頻切換信號(hào)及其諧波,再與其它之隨機(jī)性信號(hào)所組成)),通常以mVp-p峰對(duì)峰值電壓為單位來(lái)表示。   一般的開(kāi)關(guān)電源的規(guī)格均以輸出直流輸出電壓的1%以?xún)?nèi)為輸出雜訊之規(guī)格,其頻寬為20Hz到20MHz。電源實(shí)際工作時(shí)最?lèi)毫拥臓顩r(如輸出負(fù)載電流最大、輸入電源電壓最低等),若電源供應(yīng)器在惡劣環(huán)境狀況下,其輸出直流電壓加上雜訊后之輸出瞬時(shí)電壓,仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不超過(guò)輸出高低電壓界限情形,否則將可能會(huì)導(dǎo)致電源電壓超過(guò)或低于邏輯電路(如TTL電路)之承受電源電壓而誤動(dòng)作,進(jìn)一步造成死機(jī)現(xiàn)象。   同時(shí)測(cè)量電路必須有良好的隔離處理及阻抗匹配,為避免導(dǎo)線(xiàn)上產(chǎn)生不必要的干擾、振鈴和駐波,一般都采用雙同軸電纜并以50Ω于其端點(diǎn)上,并使用差動(dòng)式量測(cè)方法(可避免地回路之雜訊電流),來(lái)獲得正確的測(cè)量結(jié)果。 5. 輸入功率與效率   電源供應(yīng)器的輸入功率之定義為以下之公式:   True Power = Pav(watt) = Vrms x Arms x Power Factor 即為對(duì)一周期內(nèi)其輸入電壓與電流乘積之積分值,需注意的是Watt≠VrmsArms而是Watt=VrmsArmsxP.F.,其中P.F.為功率因素(Power Factor),通常無(wú)功率因素校正電路電源供應(yīng)器的功率因素在0.6~0.7左右,其功率因素為1~0之間。   電源供應(yīng)器的效率之定義為為輸出直流功率之總和與輸入功率之比值。效率提供對(duì)電源供應(yīng)器正確工作的驗(yàn)證,若效率超過(guò)規(guī)定范圍,即表示設(shè)計(jì)或零件材料上有問(wèn)題,效率太低時(shí)會(huì)導(dǎo)致散熱增加而影響其使用壽命。 6. 動(dòng)態(tài)負(fù)載或暫態(tài)負(fù)載   一個(gè)定電壓輸出的電源,于設(shè)計(jì)中具備反饋控制回路,能夠?qū)⑵漭敵鲭妷哼B續(xù)不斷地維持穩(wěn)定的輸出電壓。由于實(shí)際上反饋控制回路有一定的頻寬,因此限制了電源供應(yīng)器對(duì)負(fù)載電流變化時(shí)的反應(yīng)。若控制回路輸入與輸出之相移于增益(Unity Gain)為1時(shí),超過(guò)180度,則電源供應(yīng)器之輸出便會(huì)呈現(xiàn)不穩(wěn)定、失控或振蕩之現(xiàn)象。實(shí)際上,電源供應(yīng)器工作時(shí)的負(fù)載電流也是動(dòng)態(tài)變化的,而不是始終維持不變(例如硬盤(pán)、軟驅(qū)、CPU或RAM動(dòng)作等),因此動(dòng)態(tài)負(fù)載測(cè)試對(duì)電源供應(yīng)器而言是極為重要的??删幊绦螂娮迂?fù)載可用來(lái)模擬電源供應(yīng)器實(shí)際工作時(shí)最?lèi)毫拥呢?fù)載情況,如負(fù)載電流迅速上升、下降之斜率、周期等,若電源供應(yīng)器在惡劣負(fù)載狀況下,仍能夠維持穩(wěn)定的輸出電壓不產(chǎn)生過(guò)高激(Overshoot)或過(guò)低(Undershoot)情形,否則會(huì)導(dǎo)致電源之輸出電壓超過(guò)負(fù)載組件(如TTL電路其輸出瞬時(shí)電壓應(yīng)介于4.75V至5.25V之間,才不致引起TTL邏輯電路之誤動(dòng)作)之承受電源電壓而誤動(dòng)作,進(jìn)一步造成死機(jī)現(xiàn)象。 7. 啟動(dòng)時(shí)間與保持時(shí)間   啟動(dòng)時(shí)間為電源供應(yīng)器從輸入接上電源起到其輸出電壓上升到穩(wěn)壓范圍內(nèi)為止的時(shí)間,以一輸出為5V的電源供應(yīng)器為例,啟動(dòng)時(shí)間為從電源開(kāi)機(jī)起到輸出電壓達(dá)到4.75V為止的時(shí)間。   保持時(shí)間為電源供應(yīng)器從輸入切斷電源起到其輸出電壓下降到穩(wěn)壓范圍外為止的時(shí)間,以一輸出為5V的電源供應(yīng)器為例,保持時(shí)間為從關(guān)機(jī)起到輸出電壓低于4.75V為止的時(shí)間,一般值為17ms或20ms以上,以避免電力公司供電中于少了半周或一周之狀況下而受影響。    8. 其它 在電源具備一些特定保護(hù)功能的前提下,還需要進(jìn)行保護(hù)功能測(cè)試,如過(guò)電壓保護(hù)(OVP)測(cè)試、短路保護(hù)測(cè)試、過(guò)功保護(hù)等

    標(biāo)簽: 模塊電源 參數(shù) 指標(biāo) 測(cè)試方法

    上傳時(shí)間: 2013-10-22

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  • 牛頓插值的差商迭代算法,c語(yǔ)言實(shí)現(xiàn)

    牛頓插值的差商迭代算法,c語(yǔ)言實(shí)現(xiàn)

    標(biāo)簽: 牛頓 插值 迭代

    上傳時(shí)間: 2015-01-13

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  • 實(shí)現(xiàn)Lzari壓縮算法的C++類(lèi),提供內(nèi)存壓縮接口.效率比zip稍差一些

    實(shí)現(xiàn)Lzari壓縮算法的C++類(lèi),提供內(nèi)存壓縮接口.效率比zip稍差一些

    標(biāo)簽: Lzari zip 壓縮算法 內(nèi)存

    上傳時(shí)間: 2013-12-03

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  • 驗(yàn)證進(jìn)程同步的信號(hào)量方法的C程序

    驗(yàn)證進(jìn)程同步的信號(hào)量方法的C程序

    標(biāo)簽: 進(jìn)程 同步的 信號(hào)量 C程序

    上傳時(shí)間: 2013-12-21

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  • 創(chuàng)建信號(hào)量的c語(yǔ)言程序

    創(chuàng)建信號(hào)量的c語(yǔ)言程序

    標(biāo)簽: 信號(hào)量 c語(yǔ)言 程序

    上傳時(shí)間: 2014-02-17

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