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利用過采樣技術提高ADC測量分辨率

  • 資源大小:225 K
  • 上傳時間: 2013-11-20
  • 上傳用戶:xwx555
  • 資源積分:2 下載積分
  • 標      簽: ADC 過采樣 測量 分辨率

資 源 簡 介

提出了用“過采樣”技術使在有用的測量頻帶內的信噪比得到改善, 從而提高ADC 測量的分辨率。并利用Matlab 對其結論進行仿真, 且在TMS320L F2407 DSP 上予以實現,結果表明信噪比和測量分辨率明顯提高。

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