基于1553B總線的BU-61580芯片測試系統的設計 - 免費下載

測試測量資源 文件大小：1286 K

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BU-61580芯片測試系統用于檢測DDC公司的BU-61580系列芯片的總線協議功能和電氣特性，篩選失效芯片，并具備芯片接口時序調整功能，可檢驗芯片在不同的接口環境和工作方式下的特殊表現。以Windows XP為開發平臺，標準VC++為開發工具，針對該芯片設計一套測試系統。PCI總線接口的專用芯片測試卡能夠方便的插入待測試的芯片，與之相應的測試系統能夠設置芯片的訪問時序，測試芯片工作于不同模式下的狀態。實際應用表明，該測試系統具有測試界面靈活、簡單、準確的特點，滿足了用戶的要求。

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