BU-61580芯片測(cè)試系統(tǒng)用于檢測(cè)DDC公司的BU-61580系列芯片的總線協(xié)議功能和電氣特性，篩選失效芯片，并具備芯片接口時(shí)序調(diào)整功能，可檢驗(yàn)芯片在不同的接口環(huán)境和工作方式下的特殊表現(xiàn)。以Windows XP為開發(fā)平臺(tái)，標(biāo)準(zhǔn)VC++為開發(fā)工具，針對(duì)該芯片設(shè)計(jì)一套測(cè)試系統(tǒng)。PCI總線接口的專用芯片測(cè)試卡能夠方便的插入待測(cè)試的芯片，與之相應(yīng)的測(cè)試系統(tǒng)能夠設(shè)置芯片的訪問(wèn)時(shí)序，測(cè)試芯片工作于不同模式下的狀態(tài)。實(shí)際應(yīng)用表明，該測(cè)試系統(tǒng)具有測(cè)試界面靈活、簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確的特點(diǎn)，滿足了用戶的要求。
標(biāo)簽：
1553B
61580
BU
總線
上傳時(shí)間：
2015-01-03
上傳用戶：gxm2052
