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電子元器件加速壽命試驗(yàn)方法的比較

資 源 簡(jiǎn) 介

加速壽命試驗(yàn)分為恒定應(yīng)力、步進(jìn)應(yīng)力和序進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)。將一定數(shù)量的樣品分成幾組,對(duì)每組施加一個(gè)高于額定值的固定不變的應(yīng)力,在達(dá)到規(guī)定失效數(shù)或規(guī)定失效時(shí)間后停止,稱為恒定應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)(以下簡(jiǎn)稱恒加試驗(yàn)).

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