掃描模式下的ADC 發生通道間串擾 - 免費下載
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資源簡介
該問題由某客戶提出，發生在STM32F103VDT6 器件上。據其工程師講述：在其產品中，需要使用STM32 的 ADC 對多路模擬信號進行同步采樣。在具體的實現上，采用了 ADC 常規通道的掃描模式來完成這一功能。然而，在調試中過程中發現一個奇怪的現象：當將各路模擬信號的電平設置成相同時，ADC 對各路模擬信號的轉換結果相同，用 A 來表示。改變其中一路模擬信號的電平，并保持其各路模擬信號的電平不變，則 ADC 對該路信號的轉換結果變為 B。然而，此時與其在掃描次序上相鄰的下一路模擬信號的轉換結果也發生
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