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高速ADC、DAC測試原理及測試方法

  • 資源大小:2805 K
  • 上傳時間: 2022-06-19
  • 上傳用戶:lostxc
  • 資源積分:2 下載積分
  • 標      簽: ADC DAC

資 源 簡 介

隨著數字信號處理技術和數字電路工作速度的提高,以及對于系統靈敏度等要求的不斷提高,對于高速、高精度的ADC、DAC的指標都提出了很高的要求。

比如在移動通信、圖像采集等應用領域中,一方面要求ADC有比較高的采樣率以采集高帶寬的輸入信號,另一方面又要有比較高的位數以分辨細微的變化。因此,保證ADC/DAC在高速采樣情況下的精度是一個很關鍵的問題。

ADC/DAC芯片的性能測試是由芯片生產廠家完成的,需要借助昂貴的半導體測試儀器,但是對于板級和系統級的設計人員來說,更重要的是如何驗證芯片在板級或系統級應用上的真正性能指標。

ADC的主要參數

ADC的主要指標分為靜態指標和動態指標2大類。靜態指標主要有:Differ ential Non-Li nearity(DNL)

ntegral Non-Li nearity(INL)

Of fset Error ull Scale Gain Error動態指標主要有:


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