基于單片機和FPGA的頻率特性測試儀的設計 - 免費下載
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摘要:該系統基于掃頻外差基本原理,以單片機和FPGA構成的最小系統為控制核心,可在任意指定頻段內測量被測網絡的幅頻和相頻特性并顯示相應曲線。系統分DDS掃頻信號源、被測網絡、幅度和相位檢測、控制模塊及幅頻、相頻特性曲線顯示等部分,在100Hz-100kHz范圍內可自動步進測量被測網絡的幅須特性和相頻特性并自動設置頻段范圍,觀察不同頻段內網絡的幅須特性和相須特性,并在示波器上同時顯示幅須曲或和相須由線。
關鍵詞:掃頻測試;現場可編程門降列(FPGA);頻率特性;直接數字式須率合成(DDS)
頻率特性是網絡的性能最直觀反映。頻率特性測試儀是測量網絡的幅頻特性和相頻特性,并顯示相應曲線的一種快速、方便、動態、直觀的測量儀器,可廣泛應用于電子工程領域。
該測試儀以掃頻外差為基本原理,并以單片機和FPGA構成的最小系統為控制核心,很好地完成對有源雙T網絡進行頻率在100Hz~l00kHz范圍內的幅頻響應和相頻響應特性的測試,并實現在通用數字示波器上同時顯示幅頻和相頻響應特性曲線。