Quartus_II教學(xué)文件..介紹的滿深入的
標(biāo)簽： Quartus_II
上傳時間： 2016-06-13
上傳用戶：edisonfather
primer c 5th edition 一書詳細(xì)敘述了c語言的概念和知識。包括17章內(nèi)容，適合初學(xué)c語言的經(jīng)典教材
標(biāo)簽： edition primer 5th c語言
上傳時間： 2013-12-25
上傳用戶：trepb001
系數(shù)對稱的FIR濾波器設(shè)計 * *N=8,h(n)=h(N-1-n) * *y(n)=h0*[x(n)+x(n-7)]+h1*[x(n-1)+x(n-6)] * * +h2*[x(n-2)+x(n-5)]+h3*[x(n-3)+x(n-4)]
標(biāo)簽： FIR 系數(shù) 對稱 濾波器設(shè)計
上傳時間： 2013-12-09
上傳用戶：yepeng139
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
VC++6開發(fā)指南的源代碼第12章-第17章
標(biāo)簽： VC 開發(fā)指南 源代碼
上傳時間： 2014-01-19
上傳用戶：lijianyu172
關(guān)於一些面板的介紹，包括音波式面板、電阻式面板、電容式面板等資料。
標(biāo)簽： 面板
上傳時間： 2013-12-07
上傳用戶：啊颯颯大師的
介紹stack的使用 v
標(biāo)簽： stack
上傳時間： 2016-08-31
上傳用戶：myworkpost
電子通信系統(tǒng)的建模與仿真 第8章 擴(kuò)頻通信 仿真 8.1 擴(kuò)頻碼相關(guān)性的討論 8.2 擴(kuò)頻通信原理 8.3 擴(kuò)頻通信系統(tǒng) 8.4 跳頻通信系統(tǒng)
標(biāo)簽： 8.1 8.2 8.3
上傳時間： 2014-08-09
上傳用戶：ghostparker
這個是關(guān)于三星公司的S3C2440的LOADER的C++程序,包括完整8位代碼,內(nèi)容豐富.
標(biāo)簽： S3C2440 LOADER 三星 8位
上傳時間： 2016-09-19
上傳用戶：q123321
ANSYS單元的中文翻譯,詳細(xì)介紹了各單元的用途.
標(biāo)簽： ANSYS 翻譯 詳細(xì)介紹
上傳時間： 2016-10-06
上傳用戶：huangld
蟲蟲下載站版權(quán)所有 京ICP備2021023401號-1
