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元件選型

  • 自制單片機(jī)開(kāi)發(fā)板元件清單(很全)

    自己制作的51單片機(jī)開(kāi)發(fā)板的元件清單,和很全,很實(shí)用

    標(biāo)簽: 單片機(jī)開(kāi)發(fā)板 元件清單

    上傳時(shí)間: 2013-04-24

    上傳用戶:木末花開(kāi)

  • Protel元件庫(kù)

    Protel99se元件庫(kù)。多達(dá)37個(gè)元件壓縮包。

    標(biāo)簽: Protel 元件庫(kù)

    上傳時(shí)間: 2013-04-24

    上傳用戶:haobin315

  • 表面貼裝設(shè)計(jì)和焊盤圖形標(biāo)準(zhǔn)通用要求

    IPC-7351不只是一個(gè)強(qiáng)調(diào)新的元件系列更新的焊盤圖形的標(biāo)準(zhǔn),如方型扁平無(wú)引線封裝QFN (Quad Flat No-Lead)和小外型無(wú)引線封裝SON (Small Outline No-Lead);還是一個(gè)反映焊盤圖形方面的研發(fā)、分類和定義——這些建立新的工業(yè)CAD數(shù)據(jù)庫(kù)的關(guān)鍵元素——的全新變化的標(biāo)準(zhǔn)。

    標(biāo)簽: 表面貼裝 焊盤 圖形 標(biāo)準(zhǔn)

    上傳時(shí)間: 2013-05-27

    上傳用戶:mdrd3080

  • 基于ARM的全數(shù)字B型超聲診斷儀的設(shè)計(jì)與研究

    超聲理論與技術(shù)的快速發(fā)展,使超聲設(shè)備不斷更新,超聲檢查已成為預(yù)測(cè)和評(píng)價(jià)疾病及其治療結(jié)果不可缺少的重要方法。超聲診斷技術(shù)不僅具有安全、方便、無(wú)損、廉價(jià)等優(yōu)點(diǎn),其優(yōu)越性還在于它選用診斷參數(shù)的多樣性及其在工程上實(shí)現(xiàn)的靈活性。 全數(shù)字B超診斷儀基于嵌入式ARM9+FPGA硬件平臺(tái)、LINUX嵌入式操作系統(tǒng),是一種新型的、操作方便的、技術(shù)含量高的機(jī)型。它具有現(xiàn)有黑白B超的基本功能,能夠?qū)Τ暬夭〝?shù)據(jù)進(jìn)行靈活的處理,從而使操作更加方便,圖象質(zhì)量進(jìn)一步提高,并為遠(yuǎn)程醫(yī)療、圖像存儲(chǔ)、拷貝等打下基礎(chǔ),是一種很有發(fā)展前景、未來(lái)市場(chǎng)的主打產(chǎn)品。全數(shù)字B型超聲診斷儀的基本技術(shù)特點(diǎn)是用數(shù)字硬件電路來(lái)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)量極其龐大的超聲信息的實(shí)時(shí)處理,它的實(shí)現(xiàn)主要倚重于FPGA技術(shù)。現(xiàn)在FPGA已經(jīng)成為多種數(shù)字信號(hào)處理(DSP)應(yīng)用的強(qiáng)有力解決方案。硬件和軟件設(shè)計(jì)者可以利用可編程邏輯開(kāi)發(fā)各種DSP應(yīng)用解決方案。可編程解決方案可以更好地適應(yīng)快速變化的標(biāo)準(zhǔn)、協(xié)議和性能需求。 本論文首先闡述了醫(yī)療儀器發(fā)展現(xiàn)狀和嵌入式計(jì)算機(jī)體系結(jié)構(gòu)及發(fā)展?fàn)顩r,提出了課題研究?jī)?nèi)容和目標(biāo)。然后從B超診斷原理及全數(shù)字B超診斷儀設(shè)計(jì)入手深入分析了B型超聲診斷儀的系統(tǒng)的硬件體系機(jī)構(gòu)。對(duì)系統(tǒng)的總體框架和ARM模塊設(shè)計(jì)做了描述后,接著分析了超聲信號(hào)進(jìn)行數(shù)字化處理的各個(gè)子模塊、可編程邏輯器件的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)、編程原理、設(shè)計(jì)流程以及ARM處理模塊和FPGA模塊的主要通訊接口。接著,本論文介紹了基于ARM9硬件平臺(tái)的LINUX嵌入式操作系統(tǒng)的移植和設(shè)備驅(qū)動(dòng)的開(kāi)發(fā),詳細(xì)描述了B型超聲診斷儀的軟件環(huán)境的架構(gòu)及其設(shè)備驅(qū)動(dòng)的詳細(xì)設(shè)計(jì)。最后對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的功能和特點(diǎn)進(jìn)行了總結(jié)和展望。

    標(biāo)簽: ARM 全數(shù)字 儀的設(shè)計(jì) 超聲診斷

    上傳時(shí)間: 2013-05-28

    上傳用戶:sssnaxie

  • STM32F103ZE開(kāi)發(fā)板元件圖封裝圖

    STM32F103ZE開(kāi)發(fā)板元件圖封裝圖

    標(biāo)簽: F103 STM 103 32F

    上傳時(shí)間: 2013-06-04

    上傳用戶:asdfasdfd

  • 康佳T2573s型機(jī) EPROM數(shù)據(jù)

    康佳T2573s型機(jī) EPROM數(shù)據(jù)

    標(biāo)簽: T2573s EPROM 康佳 數(shù)據(jù)

    上傳時(shí)間: 2013-04-24

    上傳用戶:gjzeus

  • 基于51單片機(jī)的低價(jià)型遠(yuǎn)程多用途無(wú)線遙控模塊

    基于51單片機(jī)的低價(jià)型遠(yuǎn)程多用途無(wú)線遙控模塊:開(kāi)發(fā)完成了一種基于單片機(jī)的遠(yuǎn)程無(wú)線遙控系統(tǒng), 其主控制器為W78E516B 微處理器, 網(wǎng)絡(luò)通訊采用RTL8019AS 芯片, 實(shí)現(xiàn)了低成本和低功耗; 遠(yuǎn)

    標(biāo)簽: 51單片機(jī) 遠(yuǎn)程 多用 無(wú)線遙控

    上傳時(shí)間: 2013-05-19

    上傳用戶:Zxcvbnm

  • MF125型萬(wàn)用表電路圖

    MF125型萬(wàn)用表電路圖

    標(biāo)簽: 125 MF 萬(wàn)用表 電路圖

    上傳時(shí)間: 2013-04-24

    上傳用戶:古谷仁美

  • 高壓動(dòng)態(tài)無(wú)功補(bǔ)償及濾波裝置(TCR型SCV)

    高壓動(dòng)態(tài)無(wú)功補(bǔ)償及濾波裝置(TCR型SCV)SVC=FC+TCRTCR: Thyristor Controlled Reactor 晶閘管控制電抗器SCV: Static

    標(biāo)簽: TCR SCV 動(dòng)態(tài) 無(wú)功補(bǔ)償

    上傳時(shí)間: 2013-07-21

    上傳用戶:Miyuki

  • 基于ARM的TimeToCount輻射測(cè)量?jī)x的研究

    隨著半導(dǎo)體工藝的飛速發(fā)展和芯片設(shè)計(jì)水平的不斷進(jìn)步,ARM微處理器的性能得到大幅度地提高,同時(shí)其芯片的價(jià)格也在不斷下降,嵌入式系統(tǒng)以其獨(dú)有的優(yōu)勢(shì),己經(jīng)廣泛地滲透到科學(xué)研究和日常生活的各個(gè)方面。 本文以ARM7 LPC2132處理器為核心,結(jié)合蓋革一彌勒計(jì)數(shù)管對(duì)Time-To-Count輻射測(cè)量方法進(jìn)行研究。ARM結(jié)構(gòu)是基于精簡(jiǎn)指令集計(jì)算機(jī)(RISC)原理而設(shè)計(jì)的,其指令集和相關(guān)的譯碼機(jī)制比復(fù)雜指令集計(jì)算機(jī)要簡(jiǎn)單得多,使用一個(gè)小的、廉價(jià)的ARM微處理器就可實(shí)現(xiàn)很高的指令吞吐量和實(shí)時(shí)的中斷響應(yīng)。基于ARM7TDMI-S核的LPC2132微處理器,其工作頻率可達(dá)到60MHz,這對(duì)于Time-To-Count技術(shù)是非常有利的,而且利用LPC2132芯片的定時(shí)/計(jì)數(shù)器引腳捕獲功能,可以直接讀取TC中的計(jì)數(shù)值,也就是說(shuō)不再需要調(diào)用中斷函數(shù)讀取TC值,從而大大降低了計(jì)數(shù)前雜質(zhì)時(shí)間。本文是在我?guī)熜謪诬姷摹禩ime-To-Count測(cè)量方法初步研究》基礎(chǔ)上,使用了高速的ARM芯片,對(duì)基于MCS-51的Time-To-Count輻射測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行了改進(jìn),進(jìn)一步論證了采用高速ARM處理器芯片可以極大的提高G-M計(jì)數(shù)器的測(cè)量范圍與測(cè)量精度。 首先,討論了傳統(tǒng)的蓋革-彌勒計(jì)數(shù)管探測(cè)射線強(qiáng)度的方法,并指出傳統(tǒng)的脈沖測(cè)量方法的不足。然后討論了什么是Time-To-Count測(cè)量方法,對(duì)Time-To-Count測(cè)量方法的理論基礎(chǔ)進(jìn)行分析。指出Time-To-Count方法與傳統(tǒng)的脈沖計(jì)數(shù)方法的區(qū)別,以及采用Time-To-Count方法進(jìn)行輻射測(cè)量的可行性。 接著,詳細(xì)論述基于ARM7 LPC2132處理器的Time-To-Count輻射測(cè)量?jī)x的原理、功能、特點(diǎn)以及輻射測(cè)量?jī)x的各部分接口電路設(shè)計(jì)及相關(guān)程序的編制。 最后得出結(jié)論,通過(guò)高速32位ARM處理器的使用,Time-To-Count輻射測(cè)量?jī)x的精度和量程均得到很大的提高,對(duì)于Y射線總量測(cè)量,使用了ARM處理器的Time-To-Count輻射測(cè)量?jī)x的量程約為20 u R/h到1R/h,數(shù)據(jù)線性程度也比以前的Time-To-CotJnt輻射測(cè)量?jī)x要好。所以在使用Time-To-Count方法進(jìn)行的輻射測(cè)量時(shí),如何減少雜質(zhì)時(shí)間以及如何提高計(jì)數(shù)前時(shí)間的測(cè)量精度,是決定Time-To-Count輻射測(cè)量?jī)x性能的關(guān)鍵因素。實(shí)驗(yàn)用三只相同型號(hào)的J33G-M計(jì)數(shù)管分別作為探測(cè)元件,在100U R/h到lR/h的輻射場(chǎng)中進(jìn)行試驗(yàn).每個(gè)測(cè)量點(diǎn)測(cè)量5次取平均,得出隨著照射量率的增大,輻射強(qiáng)度R的測(cè)量值偏小且與輻射真實(shí)值之間的誤差也隨之增大。如果將測(cè)量誤差限定在10%的范圍內(nèi),則此儀器的量程范圍為20 u R/h至1R/h,量程跨度近六個(gè)數(shù)量級(jí)。而用J33型G-M計(jì)數(shù)管作常規(guī)的脈沖測(cè)量,量程范圍約為50 u R/h到5000 u R/h,充分體現(xiàn)了運(yùn)用Time-To-Count方法測(cè)量輻射強(qiáng)度的優(yōu)越性,也從另一個(gè)角度反應(yīng)了隨著計(jì)數(shù)前時(shí)間的逐漸減小,雜質(zhì)時(shí)間在其中的比重越來(lái)越大,對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響也就越來(lái)越嚴(yán)重,盡可能的減小雜質(zhì)時(shí)間在Time-To-Count方法輻射測(cè)量特別是測(cè)量高強(qiáng)度輻射中是關(guān)鍵的。筆者用示波器測(cè)出此輻射儀器的雜質(zhì)時(shí)間約為6.5 u S,所以在計(jì)算定時(shí)器值的時(shí)候減去這個(gè)雜質(zhì)時(shí)間,可以增加計(jì)數(shù)前時(shí)間的精確度。通過(guò)實(shí)驗(yàn)得出,在標(biāo)定儀器的K值時(shí),應(yīng)該在照射量率較低的條件下行,而測(cè)得的計(jì)數(shù)前時(shí)間是否精確則需要在照射量率較高的條件下通過(guò)儀器標(biāo)定來(lái)檢驗(yàn)。這是因?yàn)樵谡丈淞柯瘦^低時(shí),計(jì)數(shù)前時(shí)間較大,雜質(zhì)時(shí)間對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響不明顯,數(shù)據(jù)線斜率較穩(wěn)定,適宜于確定標(biāo)定系數(shù)K值,而在照射量率較高時(shí),計(jì)數(shù)前時(shí)間很小,雜質(zhì)時(shí)間對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響較大,可以明顯的在數(shù)據(jù)線上反映出來(lái),從而可以很好的反應(yīng)出儀器的性能與量程。實(shí)驗(yàn)證明了Time-To-Count測(cè)量方法中最為關(guān)鍵的環(huán)節(jié)就是如何對(duì)計(jì)數(shù)前時(shí)間進(jìn)行精確測(cè)量。經(jīng)過(guò)對(duì)大量實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的分析,得到計(jì)數(shù)前時(shí)間中的雜質(zhì)時(shí)間可分為硬件雜質(zhì)時(shí)間和軟件雜質(zhì)時(shí)間,并以軟件雜質(zhì)時(shí)間為主,通過(guò)對(duì)程序進(jìn)行合理優(yōu)化,軟件雜質(zhì)時(shí)間可以通過(guò)程序的改進(jìn)而減少,甚至可以用數(shù)學(xué)補(bǔ)償?shù)姆椒▉?lái)抵消,從而可以得到比較精確的計(jì)數(shù)前時(shí)間,以此得到較精確的輻射強(qiáng)度值。對(duì)于本輻射儀,用戶可以選擇不同的工作模式來(lái)進(jìn)行測(cè)量,當(dāng)輻射場(chǎng)較弱時(shí),通常采用規(guī)定次數(shù)測(cè)量的方式,在輻射場(chǎng)較強(qiáng)時(shí),應(yīng)該選用定時(shí)測(cè)量的方式。因?yàn)椋?dāng)輻射場(chǎng)較弱時(shí),如果用規(guī)定次數(shù)測(cè)量的方式,會(huì)浪費(fèi)很多時(shí)間來(lái)采集足夠的脈沖信號(hào)。當(dāng)輻射場(chǎng)較強(qiáng)時(shí),由于輻射粒子很多,產(chǎn)生脈沖的頻率就很高,規(guī)定次數(shù)的測(cè)量會(huì)加大測(cè)量誤差,當(dāng)選用定時(shí)測(cè)量的方式時(shí),由于時(shí)間的相對(duì)加長(zhǎng),所以記錄的粒子數(shù)就相對(duì)的增加,從而提高儀器的測(cè)量精度。通過(guò)調(diào)研國(guó)內(nèi)外先進(jìn)核輻射測(cè)量?jī)x器的發(fā)展現(xiàn)狀,了解到了目前最新的核輻射總量測(cè)量技術(shù)一Time-To-Count理論及其應(yīng)用情況。論證了該新技術(shù)的理論原理,根據(jù)此原理,結(jié)合高速處理器ARM7 LPC2132,對(duì)以G-計(jì)數(shù)管為探測(cè)元件的Time-To-Count輻射測(cè)量?jī)x進(jìn)行設(shè)計(jì)。論文以實(shí)驗(yàn)的方法論證了Time-To-Count原理測(cè)量核輻射方法的科學(xué)性,該輻射儀的量程和精度均優(yōu)于以前以脈沖計(jì)數(shù)為基礎(chǔ)理論的MCS-51核輻射測(cè)量?jī)x。該輻射儀具有量程寬、精度高、易操作、用戶界面友好等優(yōu)點(diǎn)。用戶可以定期的對(duì)儀器的標(biāo)定,來(lái)減小由于電子元件的老化對(duì)低儀器性能參數(shù)造成的影響,通過(guò)Time-To-Count測(cè)量方法的使用,可以極大拓寬G-M計(jì)數(shù)管的量程。就儀器中使用的J33型G-M計(jì)數(shù)管而言,G-M計(jì)數(shù)管廠家參考線性測(cè)量范圍約為50 u R/h到5000 u R/h,而用了Time-To-Count測(cè)量方法后,結(jié)合高速微處理器ARM7 LPC2132,此核輻射測(cè)量?jī)x的量程為20 u R/h至1R/h。在允許的誤差范圍內(nèi),核輻射儀的量程比以前基于MCS-51的輻射儀提高了近200倍,而且精度也比傳統(tǒng)的脈沖計(jì)數(shù)方法要高,測(cè)量結(jié)果的線性程度也比傳統(tǒng)的方法要好。G-M計(jì)數(shù)管的使用壽命被大大延長(zhǎng)。 綜上所述,本文取得了如下成果:對(duì)國(guó)內(nèi)外Time-To-Count方法的研究現(xiàn)狀進(jìn)行分析,指出了Time-To-Count測(cè)量方法的基本原理,并對(duì)Time-T0-Count方法理論進(jìn)行了分析,推導(dǎo)出了計(jì)數(shù)前時(shí)間和兩個(gè)相鄰輻射粒子時(shí)間間隔之間的關(guān)系,從數(shù)學(xué)的角度論證了Time-To-Count方法的科學(xué)性。詳細(xì)說(shuō)明了基于ARM 7 LPC2132的Time-To-Count輻射測(cè)量?jī)x的硬件設(shè)計(jì)、軟件編程的過(guò)程,通過(guò)高速微處理芯片LPC2132的使用,成功完成了對(duì)基于MCS-51單片機(jī)的Time-To-Count測(cè)量?jī)x的改進(jìn)。改進(jìn)后的輻射儀器具有量程寬、精度高、易操作、用戶界面友好等特點(diǎn)。本論文根據(jù)實(shí)驗(yàn)結(jié)果總結(jié)出了Time-To-Count技術(shù)中的幾點(diǎn)關(guān)鍵因素,如:處理器的頻率、計(jì)數(shù)前時(shí)間、雜質(zhì)時(shí)間、采樣次數(shù)和測(cè)量時(shí)間等,重點(diǎn)分析了雜質(zhì)時(shí)間的組成以及引入雜質(zhì)時(shí)間的主要因素等,對(duì)國(guó)內(nèi)核輻射測(cè)量?jī)x的研究具有一定的指導(dǎo)意義。

    標(biāo)簽: TimeToCount ARM 輻射測(cè)量?jī)x

    上傳時(shí)間: 2013-06-24

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