資料壓縮技術(shù)與應(yīng)用-變動(dòng)長度編碼壓縮及解壓縮(Run Length Encoding) 整數(shù)採用固定長度一個(gè)位元組表示法 對於只出現(xiàn)一次的位元組S亦用iS取代
標(biāo)簽： Encoding Length Run 表示法
上傳時(shí)間： 2016-08-15
上傳用戶：GavinNeko
資料壓縮技術(shù)與應(yīng)用-變動(dòng)長度編碼壓縮(Run Length Encoding)~ 整數(shù)採用固定長度一個(gè)位元組表示法~ 對於只出現(xiàn)一次的位元組S亦用iS取代~
標(biāo)簽： Encoding Length Run 表示法
上傳時(shí)間： 2016-08-15
上傳用戶：asdfasdfd
系統(tǒng)主要以一電腦公司進(jìn)銷存管理為基本要求，主要功能包括對各個(gè)數(shù)據(jù)表的查詢和維護(hù)，進(jìn)貨、銷售、退貨登記，對各個(gè)廠商進(jìn)貨總額、顧客購買總額、商品銷售量、商品退貨量、業(yè)務(wù)員業(yè)績及薪金的排行和一些報(bào)表分析。采用vb技術(shù)和MS SQL Server數(shù)據(jù)庫
上傳時(shí)間： 2013-12-25
上傳用戶：2404
這是用java語言開發(fā)的企業(yè)進(jìn)銷存管理系統(tǒng)，有需要的朋友可以下載下來參考參考。
標(biāo)簽： java 語言 管理系統(tǒng) 進(jìn)銷
上傳時(shí)間： 2013-12-19
上傳用戶：003030
OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時(shí)間： 2016-08-16
上傳用戶：sssl
內(nèi)容為DEV C++物件導(dǎo)向程式設(shè)計(jì)的PPT,說明淺顯易懂,希望對各位有所幫助
上傳時(shí)間： 2014-08-09
上傳用戶：qunquan
可實(shí)現(xiàn)對商品進(jìn)銷存的管理。 并對具體商品信息進(jìn)行查詢、修改和刪除
上傳時(shí)間： 2014-01-08
上傳用戶：問題問題
在做2維度樣本分類的過程中,若我們能事先畫出訓(xùn)練樣本在空間中的分散情形,這將有助於我們在設(shè)定SVM分類器的參數(shù)C的取值範(fàn)圍. 例如:若畫出的訓(xùn)練樣本的散佈較分散,我們可以得知此時(shí)採用的參數(shù)值可以取在較大的範(fàn)圍. 所以本程式也是讓想要畫出資料樣本在平面的散佈情形者之一各可行工具.
上傳時(shí)間： 2016-08-19
上傳用戶：sy_jiadeyi
STM32F10x閃存編程手冊
上傳時(shí)間： 2016-08-19
上傳用戶：561596
STM32F101xx和STM32F103xx閃存加載演示程序(Flash loader demonstrator
標(biāo)簽： demonstrator STM 32F loader
上傳時(shí)間： 2014-01-11
上傳用戶：duoshen1989
蟲蟲下載站版權(quán)所有 京ICP備2021023401號-1
