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  • pcb layout design(臺(tái)灣硬件工程師15年經(jīng)驗(yàn)

    PCB LAYOUT 術(shù)語解釋(TERMS)1. COMPONENT SIDE(零件面、正面)︰大多數(shù)零件放置之面。2. SOLDER SIDE(焊錫面、反面)。3. SOLDER MASK(止焊膜面)︰通常指Solder Mask Open 之意。4. TOP PAD︰在零件面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。5. BOTTOM PAD:在銲錫面上所設(shè)計(jì)之零件腳PAD,不管是否鑽孔、電鍍。6. POSITIVE LAYER:?jiǎn)巍㈦p層板之各層線路;多層板之上、下兩層線路及內(nèi)層走線皆屬之。7. NEGATIVE LAYER:通常指多層板之電源層。8. INNER PAD:多層板之POSITIVE LAYER 內(nèi)層PAD。9. ANTI-PAD:多層板之NEGATIVE LAYER 上所使用之絕緣範(fàn)圍,不與零件腳相接。10. THERMAL PAD:多層板內(nèi)NEGATIVE LAYER 上必須零件腳時(shí)所使用之PAD,一般稱為散熱孔或?qū)住?1. PAD (銲墊):除了SMD PAD 外,其他PAD 之TOP PAD、BOTTOM PAD 及INNER PAD 之形狀大小皆應(yīng)相同。12. Moat : 不同信號(hào)的 Power& GND plane 之間的分隔線13. Grid : 佈線時(shí)的走線格點(diǎn)2. Test Point : ATE 測(cè)試點(diǎn)供工廠ICT 測(cè)試治具使用ICT 測(cè)試點(diǎn) LAYOUT 注意事項(xiàng):PCB 的每條TRACE 都要有一個(gè)作為測(cè)試用之TEST PAD(測(cè)試點(diǎn)),其原則如下:1. 一般測(cè)試點(diǎn)大小均為30-35mil,元件分布較密時(shí),測(cè)試點(diǎn)最小可至30mil.測(cè)試點(diǎn)與元件PAD 的距離最小為40mil。2. 測(cè)試點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)間的間距最小為50-75mil,一般使用75mil。密度高時(shí)可使用50mil,3. 測(cè)試點(diǎn)必須均勻分佈於PCB 上,避免測(cè)試時(shí)造成板面受力不均。4. 多層板必須透過貫穿孔(VIA)將測(cè)試點(diǎn)留於錫爐著錫面上(Solder Side)。5. 測(cè)試點(diǎn)必需放至於Bottom Layer6. 輸出test point report(.asc 檔案powerpcb v3.5)供廠商分析可測(cè)率7. 測(cè)試點(diǎn)設(shè)置處:Setup􀃆pads􀃆stacks

    標(biāo)簽: layout design pcb 硬件工程師

    上傳時(shí)間: 2013-10-22

    上傳用戶:pei5

  • IC封裝製程簡(jiǎn)介(IC封裝制程簡(jiǎn)介)

    半導(dǎo)體的產(chǎn)品很多,應(yīng)用的場(chǎng)合非常廣泛,圖一是常見的幾種半導(dǎo)體元件外型。半導(dǎo)體元件一般是以接腳形式或外型來劃分類別,圖一中不同類別的英文縮寫名稱原文為   PDID:Plastic Dual Inline Package SOP:Small Outline Package SOJ:Small Outline J-Lead Package PLCC:Plastic Leaded Chip Carrier QFP:Quad Flat Package PGA:Pin Grid Array BGA:Ball Grid Array         雖然半導(dǎo)體元件的外型種類很多,在電路板上常用的組裝方式有二種,一種是插入電路板的銲孔或腳座,如PDIP、PGA,另一種是貼附在電路板表面的銲墊上,如SOP、SOJ、PLCC、QFP、BGA。    從半導(dǎo)體元件的外觀,只看到從包覆的膠體或陶瓷中伸出的接腳,而半導(dǎo)體元件真正的的核心,是包覆在膠體或陶瓷內(nèi)一片非常小的晶片,透過伸出的接腳與外部做資訊傳輸。圖二是一片EPROM元件,從上方的玻璃窗可看到內(nèi)部的晶片,圖三是以顯微鏡將內(nèi)部的晶片放大,可以看到晶片以多條銲線連接四周的接腳,這些接腳向外延伸並穿出膠體,成為晶片與外界通訊的道路。請(qǐng)注意圖三中有一條銲線從中斷裂,那是使用不當(dāng)引發(fā)過電流而燒毀,致使晶片失去功能,這也是一般晶片遭到損毀而失效的原因之一。   圖四是常見的LED,也就是發(fā)光二極體,其內(nèi)部也是一顆晶片,圖五是以顯微鏡正視LED的頂端,可從透明的膠體中隱約的看到一片方型的晶片及一條金色的銲線,若以LED二支接腳的極性來做分別,晶片是貼附在負(fù)極的腳上,經(jīng)由銲線連接正極的腳。當(dāng)LED通過正向電流時(shí),晶片會(huì)發(fā)光而使LED發(fā)亮,如圖六所示。     半導(dǎo)體元件的製作分成兩段的製造程序,前一段是先製造元件的核心─晶片,稱為晶圓製造;後一段是將晶中片加以封裝成最後產(chǎn)品,稱為IC封裝製程,又可細(xì)分成晶圓切割、黏晶、銲線、封膠、印字、剪切成型等加工步驟,在本章節(jié)中將簡(jiǎn)介這兩段的製造程序。

    標(biāo)簽: 封裝 IC封裝 制程

    上傳時(shí)間: 2014-01-20

    上傳用戶:蒼山觀海

  • 如何對(duì)STM8S的閃存存儲(chǔ)器和數(shù)據(jù)EEPROM編程

    如何對(duì)STM8S的閃存存儲(chǔ)器和數(shù)據(jù)EEPROM編程

    標(biāo)簽: EEPROM STM8S 閃存 存儲(chǔ)器

    上傳時(shí)間: 2014-12-24

    上傳用戶:jennyzai

  • HT45F23 OPA 功能

    HT45F23 MCU 含有兩個(gè)運(yùn)算放大器,OPA1 和OPA2,可用於用戶特定的模擬信號(hào)處理,通 過控制暫存器,OPA 相關(guān)的應(yīng)用可以很容易實(shí)現(xiàn)。本文主要介紹OPA 的操作,暫存器設(shè)定 以及基本OPA 應(yīng)用,例如:同相放大器、反相放大器和電壓跟隨器。 HT45F23 運(yùn)算放大器OPA1/OPA2 具有多個(gè)開關(guān),輸入路徑可選以及多種參考電壓選擇,此 外OPA2 內(nèi)部有8 種增益選項(xiàng),直接通過軟體設(shè)定。適應(yīng)於各種廣泛的應(yīng)用。

    標(biāo)簽: 45F F23 OPA HT

    上傳時(shí)間: 2013-11-21

    上傳用戶:immanuel2006

  • 采用納瓦技術(shù)的8/14引腳閃存8位CMOS單片機(jī) PIC12

    采用納瓦技術(shù)的8/14引腳閃存8位CMOS單片機(jī) PIC12F635/PIC16F636/639數(shù)據(jù)手冊(cè) 目錄1.0 器件概述 2.0 存儲(chǔ)器構(gòu)成3.0 時(shí)鐘源4.0 I/O 端口 5.0 Timer0 模塊6.0 具備門控功能的Timer1 模塊 7.0 比較器模塊8.0 可編程低壓檢測(cè)(PLVD)模塊9.0 數(shù)據(jù)EEPROM 存儲(chǔ)器10.0 KeeLoq® 兼容加密模塊 11.0 模擬前端(AFE)功能說明 (僅限PIC16F639)12.0 CPU 的特殊功能13.0 指令集概述14.0 開發(fā)支持15.0 電氣特性16.0 DC 和AC 特性圖表17.0 封裝信息Microchip 網(wǎng)站變更通知客戶服務(wù)客戶支持讀者反饋表 附錄A: 數(shù)據(jù)手冊(cè)版本歷史產(chǎn)品標(biāo)識(shí)體系全球銷售及服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)

    標(biāo)簽: CMOS PIC 14 12

    上傳時(shí)間: 2013-11-17

    上傳用戶:qlpqlq

  • 6引腳8位閃存單片機(jī) PIC10F200/202/204/2

    6引腳8位閃存單片機(jī) PIC10F200/202/204/206數(shù)據(jù)手冊(cè) 目錄1.0 器件概述2.0 PIC10F200/202/204/206 器件種類3.0 架構(gòu)概述4.0 存儲(chǔ)器構(gòu)成5.0 I/O 端口6.0 Timer0 模塊和TMR0 寄存器(PIC10F200/202)7.0 Timer0 模塊和TMR0 寄存器(PIC10F204/206)8.0 比較器模塊9.0 CPU 的特性10.0 指令集匯總11.0 開發(fā)支持  12.0 電氣規(guī)范  13.0 DC 及AC 特性圖表14.0 封裝信息  索引 客戶支持 變更通知客戶服務(wù) 讀者反饋表  產(chǎn)品標(biāo)識(shí)體系

    標(biāo)簽: 200 202 204 PIC

    上傳時(shí)間: 2013-10-09

    上傳用戶:chenhr

  • NEC閃光胸牌及閃存編程器原理及設(shè)計(jì)

    NEC閃光胸牌電路板的構(gòu)成電路板是由單片機(jī)應(yīng)用電路部分和閃存編程器兩部分構(gòu)成的。■單片機(jī)應(yīng)用電路部分單片機(jī)應(yīng)用電路部分主要是由電池(1220),開關(guān)和NEC 78K0/KB2(uPD78F0500)8位閃存單片機(jī)構(gòu)成。把程序?qū)懭雴纹瑱C(jī)內(nèi)置的閃存存儲(chǔ)器,就可以進(jìn)行各種控制了。■閃存編程器部分閃存編程器是把PC里的程序?qū)懭雴纹瑱C(jī)的閃存存儲(chǔ)器的裝置。您得到的電路板上的閃存編程器部分只有配線沒有零部件,要寫入程序必須購置零部件后焊接,您只要花費(fèi)很少的經(jīng)費(fèi)和精力即可完成。關(guān)于閃存編程器的制作方法下面會(huì)做詳細(xì)說明。

    標(biāo)簽: NEC 閃存編程器

    上傳時(shí)間: 2013-10-31

    上傳用戶:frank1234

  • 基于閃存的大容量存儲(chǔ)陣列

    文中研究并實(shí)現(xiàn)了一種基于NAND型Flash的高速大容量固態(tài)存儲(chǔ)系統(tǒng),成果為實(shí)際研制應(yīng)用于星的基于閃存的大容量存儲(chǔ)器奠定了基礎(chǔ),具體較好的指導(dǎo)和借鑒意義。

    標(biāo)簽: 閃存 大容量 存儲(chǔ)陣列

    上傳時(shí)間: 2014-10-15

    上傳用戶:guanliya

  • STM32F10xxx閃存編程參考手冊(cè)

    STM32F10xxx閃存編程參考手冊(cè)

    標(biāo)簽: STM 32F F10 xxx

    上傳時(shí)間: 2013-11-06

    上傳用戶:zhaoke2005

  • 嵌入式系統(tǒng)中基于閃存平臺(tái)的存儲(chǔ)管理策略

    開發(fā)了一個(gè)基于閃存平臺(tái)的嵌入式文件系統(tǒng)。為保證閃存扇區(qū)的平均使用率和均衡擦寫次數(shù),引入了損壞管理策略,在這種策略中采用了動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)空間管理模式和先入先出(FIFO)策略。所采用的冗余設(shè)計(jì)、快速計(jì)算和跟蹤策略還可以延長(zhǎng)核心扇區(qū)使用壽命,保證系統(tǒng)啟動(dòng)可靠的服務(wù)。

    標(biāo)簽: 嵌入式系統(tǒng) 存儲(chǔ)管理 閃存 策略

    上傳時(shí)間: 2014-12-30

    上傳用戶:lingzhichao

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