·詳細(xì)說明：H.263編解碼原程序及測試程序源碼,含測試序列,很難得的測試程序源代碼.文件列表: H.263編解碼原程序及測試程序源碼 ...............................\libr263 ...............................\.......\coder.c .................
標(biāo)簽： 263 編解碼 程序 測試程序
上傳時(shí)間： 2013-06-18
上傳用戶：ykykpb
·采用G.729的語言實(shí)時(shí)通信DLL(含測試源代碼)
標(biāo)簽： 729 DLL 語言 實(shí)時(shí)通信
上傳時(shí)間： 2013-05-19
上傳用戶：西伯利亞狼
·文件列表: U盤MP3下的文件系統(tǒng) 完全兼容FAT16 FAT32 ......................................\U盤MP3文件系統(tǒng) ......................................\..............\fat.c .............................
標(biāo)簽： FAT MP3 16 32
上傳時(shí)間： 2013-06-21
上傳用戶：Shoen
·何秀偉《電機(jī)測試技術(shù)》
標(biāo)簽： 電機(jī) 測試技術(shù)
上傳時(shí)間： 2013-06-02
上傳用戶：chuckbassboy
·電路板級(jí)的電磁兼容設(shè)計(jì)
標(biāo)簽： 電路 板級(jí) 電磁兼容設(shè)計(jì)
上傳時(shí)間： 2013-07-22
上傳用戶：hfmm633
上傳時(shí)間： 2013-04-24
上傳用戶：sunjet
·書中包括的索引使你能夠根據(jù)自己的需要，直接閱讀你所關(guān)注的內(nèi)容。主要內(nèi)容包括：設(shè)計(jì)核心，關(guān)注嵌入核心和嵌入存儲(chǔ)器；系統(tǒng)集成和超大規(guī)模集成電路的設(shè)計(jì)問題；AC掃描、正常速度掃描和嵌入式可測試性設(shè)計(jì)；內(nèi)建、自測試、含內(nèi)存BIST、邏輯BIST及掃描BIST；虛擬測試套接字和隔離測試 ·重用設(shè)計(jì)，包括重用和隔離測試；用VSIA和IEEE P1500標(biāo)準(zhǔn)處理測試問題。 書中穿插的整幅圖解直接來自作者的教學(xué)材
標(biāo)簽： 數(shù)字集成電路 嵌入式 內(nèi)核
上傳用戶：sjb555
·電磁干擾排查及故障解決的電磁兼容技術(shù)
標(biāo)簽： 電磁干擾 排查 電磁兼容技術(shù)
上傳時(shí)間： 2013-06-30
上傳用戶：W51631
·[測試書籍]An_introduction_to_mixed_signal_ic_test_and_measurement
標(biāo)簽： An_introduction_to_mixed_signal_i c_test_and_measurement 測試 書籍
上傳用戶：LouieWu
·詳細(xì)說明：做實(shí)驗(yàn)室測試的matlab指紋識(shí)別代碼，主要測試了指紋的幾種特征提取對(duì)識(shí)別的影響，可用來進(jìn)行論文論證階段的實(shí)驗(yàn)室使用，希望對(duì)初學(xué)者和廣大在校生有幫助.文件列表: fvsmatlabsourcecode ...................\19_7.bmp ...................\22443.bmp .......
標(biāo)簽： matlab 實(shí)驗(yàn)室 代碼 測試
上傳時(shí)間： 2013-07-03
上傳用戶：時(shí)代電子小智
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