現(xiàn)場可編程門陣列(FPGA)是一種新型器件,它將門陣列的通用結(jié)構(gòu)與現(xiàn)場可編程的特性結(jié)合于一體.如今,FPGA系列器件已成為最受歡迎的器件之一.隨著FPGA器件的廣泛應(yīng)用,它在數(shù)字系統(tǒng)中的作用日益變得重要,它所要求的準(zhǔn)確性也變得更高.因此,對FPGA器件的故障測試和故障診斷方法進(jìn)行更全面的研究具有重要意義.隨著集成電路規(guī)模的迅速膨脹,電路結(jié)構(gòu)變得復(fù)雜,使大量的故障不可測.所以,人們把視線轉(zhuǎn)向了可測性設(shè)計(DFT)問題.可測性設(shè)計的提出為解決測試問題開辟了新的有效途徑,而邊界掃描測試方法(BST)是其中一個重要的技術(shù).本文闡述了FPGA系列器件的結(jié)構(gòu)特點(diǎn),邊界掃描測試相關(guān)的基本概念與基本理論,給出利用布爾矩陣?yán)碚摻⒌倪吔鐠呙铚y試過程的數(shù)學(xué)描述和數(shù)學(xué)模型.論文中主要討論了邊界掃描測試中的測試優(yōu)化問題,給出解決兩類優(yōu)化問題的現(xiàn)有算法,對它們的優(yōu)缺點(diǎn)進(jìn)行了對比,并且提出對兩種現(xiàn)有算法的改進(jìn),比較了改進(jìn)前后優(yōu)化算法的性能.最后總結(jié)了利用邊界掃描測試FPGA的具體過程.
標(biāo)簽:
FPGA
邊界掃描
測試
方法研究
上傳時間:
2013-08-06
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