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半導體物理基礎

  • 可替代整合型MOSFET的獨立元件

    在電源設計中,工程人員時常會面臨控制 IC 驅動電流不足的問題,或者因為閘極驅動損耗導致控制 IC 功耗過大。為解決這些問題,工程人員通常會採用外部驅動器。目前許多半導體廠商都有現成的 MOSFET 積體電路驅動器解決方案,但因為成本考量,工程師往往會選擇比較低價的獨立元件。

    標簽: MOSFET 獨立元件

    上傳時間: 2013-11-19

    上傳用戶:阿譚電器工作室

  • 使用向量訊號產生器來提升收發器測試速度

     收發器乃新型通訊系統的基本組件,可以用於各種不同裝置包括手機、 收發器乃新型通訊系統的基本組件,可以用於各種不同裝置包括手機、 收發器乃新型通訊系統的基本組件,可以用於各種不同裝置包括手機、 WLANWLANWLANWLAN網路橋接器與蜂巢式基礎建設。

    標簽: 向量訊號產生器 收發器 測試 速度

    上傳時間: 2013-10-12

    上傳用戶:ligi201200

  • 一個基本的OFDM程序

    一個基本的OFDM程序,從傳送到接收的sample,適合基礎人員藉此學習matlab與驅動OFDM模型。

    標簽: OFDM 程序

    上傳時間: 2013-12-20

    上傳用戶:朗朗乾坤

  • 這是臺灣鳥哥linux私房菜的電子書檔

    這是臺灣鳥哥linux私房菜的電子書檔,內容是一些linux的基礎教學與架設伺服器的設定,希望大家會喜歡

    標簽: linux

    上傳時間: 2014-01-18

    上傳用戶:qq21508895

  • Linux操作系統下C語言編程入門

    Linux操作系統下C語言編程入門,基礎Linux下寫C程式

    標簽: Linux 操作 系統

    上傳時間: 2013-11-26

    上傳用戶:啊颯颯大師的

  • 快速瞭解ECLIPSE 目錄 序言· 一.Eclipse 簡介 二.Eclipse 組織 三.Eclipse 相關術語 四.Eclipse 平臺 五.EMF & GEF 介紹 六.關於

    快速瞭解ECLIPSE 目錄 序言· 一.Eclipse 簡介 二.Eclipse 組織 三.Eclipse 相關術語 四.Eclipse 平臺 五.EMF & GEF 介紹 六.關於Eclipse、SWT 和JFace 一個SWT 應用程式的基礎材料 基本控制項 標籤 文件 按鈕 事件監聽器 複合控制項 Shell 佈局管理器 FillLayout GridLayout GridData 15 建立一個執行程式 為什麼使用SWT 七.OSGI 簡介 Eclipse 資源 附錄1 SWT 的內幕? 附錄2 相關網站 附錄3 外掛開發

    標簽: Eclipse ECLIPSE EMF GEF

    上傳時間: 2015-11-30

    上傳用戶:cc1

  • 這是在wince上的小畫家程式

    這是在wince上的小畫家程式,實際load在xscale版子上過,讓我們了解GDI+繪圖在WINCE上,可以用RGB調色盤、直線曲線橢圓等功能,對於WINCE開發繪圖上算是基礎工具。

    標簽: wince 程式

    上傳時間: 2016-01-05

    上傳用戶:ANRAN

  • K51 浮點數除法

    K51 浮點數除法,用匯編編寫,基礎的東西

    標簽: K51 除法

    上傳時間: 2013-12-16

    上傳用戶:xauthu

  • 《實戰C++ — 八個別具特色的實作經驗》與目前市面㆖ 眾多C++ 書籍的最大不同

    《實戰C++ — 八個別具特色的實作經驗》與目前市面㆖ 眾多C++ 書籍的最大不同,在於 本書既非基礎觀念之教㈻ 書籍,亦非開發工具之使用手冊,而是以「㆒ 章㆒ 專案」的方式, 從實際應用面引領讀者領略C++。 本書是《The Art of C++》的㆗ 文譯本。原作者Herbert Schildt 是㆒ 位㈻ ㈲ 專精、著作等身的 IT 技術作家,其作品普遍獲得良好評價。

    標簽: 12694

    上傳時間: 2016-02-08

    上傳用戶:894898248

  • OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN

    OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹,在此基礎上,結合ARM7TDMI詳細介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標準開始,JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標準最初是由JTAG這個組織提出,最終由IEEE批準並且標準化,所以,IEEE 1149.1這個標準一般也俗稱JTAG測試標準。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構。

    標簽: JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM

    上傳時間: 2016-08-16

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