《數(shù)字集成電路:電路、系統(tǒng)與設(shè)計(jì)(第二版) 》,電子工業(yè)出版社出版,外文書(shū)名: Digital Integrated Circuits:A Design Perspective,Second Edition,作者:簡(jiǎn)·M.拉貝艾 (Jan M.Rahaey) (作者), Anantha Chandrakasan (作者), Borivoje Nikolic (作者), 周潤(rùn)德 (譯者), 等 (譯者)。本書(shū)由美國(guó)加州大學(xué)伯克利分校Jan M. Rabaey教授等人所著。全書(shū)共12章,分為三部分: 基本單元、電路設(shè)計(jì)和系統(tǒng)設(shè)計(jì)。本書(shū)在對(duì)MOS器件和連線的特性做了簡(jiǎn)要的介紹之后,深入分析了數(shù)字設(shè)計(jì)的核心——反相器,并逐步將這些知識(shí)延伸到組合邏輯電路、時(shí)序邏輯電路、控制器、運(yùn)算電路以及存儲(chǔ)器這些復(fù)雜數(shù)字電路與系統(tǒng)的設(shè)計(jì)中。為了反映數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)進(jìn)入深亞微米領(lǐng)域后正在發(fā)生的深刻變化,本書(shū)以CMOS工藝的實(shí)際電路為例,討論了深亞微米器件效應(yīng)、電路最優(yōu)化、互連線建模和優(yōu)化、信號(hào)完整性、時(shí)序分析、時(shí)鐘分配、高性能和低功耗設(shè)計(jì)、設(shè)計(jì)驗(yàn)證、芯片測(cè)試和可測(cè)性設(shè)計(jì)等主題,著重探討了深亞微米數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)所面臨的挑戰(zhàn)和啟示。
標(biāo)簽:
數(shù)字集成電路
電路系統(tǒng)
上傳時(shí)間:
2022-05-13
上傳用戶:zhaiyawei