?? 單片機相關技術資料

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高性能ADC產品的出現，給混合信號測試領域帶來前所未有的挑戰。并行ADC測試方案實現了多個ADC測試過程的并行化和實時化，減少了單個ADC的平均測試時間，從而降低ADC測試成本。本文實現了基于FPGA的ADC并行測試方法。在閱讀相關文獻的基礎上，總結了常用ADC參數測試方法和測試流程。使用FPGA實...

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· 摘要：  研究了以全橋變換器作為主電路拓撲、以TMS320LF240x系列DSP作主控芯片、以移相控制方式作為控制方案的移相全橋軟開關DC-DC變換器.由DSP發出移相控制信號并經芯片IR2110驅動放大,在移相驅動信號的控制下可以實現全橋變換器主功率開關的ZVS.進行了系統...

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