量測可變電阻的類比電壓值，並將10位元的良測結(jié)果轉(zhuǎn)換成ASCII編碼，並輸出到個人電腦上的終端機(jī)
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上傳時間： 2014-01-19
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探討 IP TV客戶體驗感覺Q o E的計算標(biāo)準(zhǔn)，完整版全文文獻(xiàn)。
標(biāo)簽： IP
上傳時間： 2014-01-09
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利用T2FNN進(jìn)行MEC建模,針對IC散射現(xiàn)象進(jìn)行量測與模擬比較
上傳時間： 2014-01-10
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Arduino 類比電壓的標(biāo)準(zhǔn)測試程式，利用讀取類比電壓的值來控制led閃爍的頻率，文中有詳細(xì)的描述與介紹說明。
上傳時間： 2013-12-20
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量測/測試所面臨之問題 此測試驗證上，要使用NI公司之LAB VIEW及DAQ CARD來取代AUDIO PRECISION及其所附軟體ATS。首先需克服硬體解析度上的差異，再來是FFT（FAST FOURIER TRANSFORM,快速傳立業(yè)轉(zhuǎn)換）演算未予的撰寫，這將會影響MULTI-TONE訊號上PEAK值的偵測。另外，以RS-232為I/O介面，并呼叫客戶所提供之DLL檔來與DUT內(nèi)的IC溝通，但因LAB VIEW無法直接呼叫其STRUCTURE，故需用VC++再編譯一層新的DLL來供LAB VIEW使用。
上傳時間： 2013-12-13
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s3c2410開關(guān)量輸出驅(qū)動程序，開關(guān)量輸出驅(qū)動程序，實際就是控制S3C2410的I/O口點評，來控制相應(yīng)開關(guān)閥或者繼電器的開與關(guān)
標(biāo)簽： s3c2410 開關(guān)量 輸出 驅(qū)動程序
上傳時間： 2016-03-14
上傳用戶：蟲蟲蟲蟲蟲蟲
*** *** *** *** *** *** *** *** * RTL8019測試程式說明 By hugang, hgx2000@mail.china.com ************************************************* 1.文件說明 Net : Rtl8019驅(qū)動代碼 Src : 主程式代碼 Inc : 主程式的頭文件 Debug : SDT目標(biāo)代碼 Myusb_Data : ADS目標(biāo)代碼 Myusb.apj : SDT2.51工程文件 Myusb.mcp : ADS1.2工程文件 Myusb.PR : SourceInsight3.5工程文件
標(biāo)簽： hugang china 8019 2000
上傳時間： 2014-11-23
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*** *** *** *** *** *** *** *** * USB測試程式說明 By hugang, hgx2000@mail.china.com ************************************************* 1.文件說明 Usb : PDIUSB12驅(qū)動代碼 Src : 主程式代碼 Inc : 主程式的頭文件 Debug : SDT目標(biāo)代碼 Myusb_Data : ADS目標(biāo)代碼 Tools : PC端測試程式及驅(qū)動 Myusb.apj : SDT2.51工程文件 Myusb.mcp : ADS1.2工程文件 Myusb.PR : SourceInsight3.5工程文件
標(biāo)簽： hugang china 2000 mail
上傳時間： 2016-04-09
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*** *** *** *** *** *** *** *** * UCOS_II測試程式說明 By hugang, hgx2000@mail.china.com ************************************************* 1.文件說明 UCOS_II : UCOS_II代碼，2.71版 Src : 主程式代碼 Inc : 主程式的頭文件 Debug : SDT目標(biāo)代碼 Myucos_Data : ADS目標(biāo)代碼 Myucos.apj : SDT2.51工程文件 Myusos.mcp : ADS1.2工程文件 Myusos.PR : SourceInsight3.5工程文件
標(biāo)簽： UCOS_II hugang china 2000
上傳時間： 2014-02-11
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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