OPEN-JTAG ARM JTAG 測試原理 1 前言 本篇報告主要介紹ARM JTAG測試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)開始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡稱。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱JTAG測試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
上傳時間： 2016-08-16
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這本書是多年來我對專業(yè)程式員所做的C++ 教學(xué)課程下的一個自然產(chǎn)物。我發(fā)現(xiàn)，大部份學(xué)生在一個星期的密集訓(xùn)練之後，即可適應(yīng)這個語言的基本架構(gòu)，但要他們「將這些基礎(chǔ)架構(gòu)以有效的方式組合運用」，我實在不感樂觀。於是我開始嘗試組織出一些簡短、明確、容易記憶的準(zhǔn)則，做為C++ 高實效性程式開發(fā)過程之用。那都是經(jīng)驗豐富的C++ 程式員幾乎總是會奉行或幾乎肯定要避免的一些事情。structures of computer science.
標(biāo)簽： 程式
上傳時間： 2016-10-13
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自組織映射網(wǎng)路(SOM) ，一種以競爭架構(gòu)為學(xué)習(xí)基礎(chǔ)的類神經(jīng)網(wǎng)路模式 SOM網(wǎng)路是模仿腦神經(jīng)細(xì)胞『物以類聚』的特性
標(biāo)簽： SOM 映射
上傳時間： 2017-01-07
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h264_and_mpeg4_video_compressed 英文書 原文電子檔 為h264_and_mpeg4之基礎(chǔ)教科書
標(biāo)簽： h264基礎(chǔ)
上傳時間： 2015-05-01
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基於GSM公網(wǎng)的PLC遠(yuǎn)端通信的設(shè)計與實現(xiàn).rar
標(biāo)簽： GSM PLC 通信
上傳時間： 2014-11-26
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基於Web的通用型題庫系統(tǒng)的設(shè)計與實現(xiàn),online exam design
標(biāo)簽： online design exam Web
上傳時間： 2013-12-22
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基於VA7205的充電電路設(shè)計. 具電壓,電流和溫度監(jiān)控功能.
標(biāo)簽： 7205 VA 充電電路 電壓
上傳時間： 2016-12-05
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如果你是專注於設(shè)計,生產(chǎn),安裝,運作,維護(hù)保養(yǎng)影像或是廣播設(shè)備,把這是巨大的資源基於你的必須知道的精要
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上傳時間： 2014-01-12
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包裝工程設(shè)計手冊
標(biāo)簽： 工程 手冊
上傳時間： 2013-04-15
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滑塊設(shè)計 15個
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