九十三學(xué)年 度 全國(guó)大學(xué)校院嵌入式軟體設(shè)計(jì)競(jìng)賽 多媒體組決賽報(bào)告書(shū) 具效能與耗電可調(diào)適性之智慧型數 位相機(jī)
標(biāo)簽： 63886 63849 64001 嵌入式
上傳時(shí)間： 2014-11-29
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中國(guó)式報(bào)表,PowerBuilder8.0環(huán)境
標(biāo)簽： PowerBuilder 8.0
上傳時(shí)間： 2014-02-24
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E:\Study\Microsoft\MOSS\SQL Server 2005 報(bào)表服務(wù)
標(biāo)簽： StudyMicrosoftMOSSSQL Server 2005
上傳時(shí)間： 2014-12-04
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Microsoft Office Excel 2007 之報(bào)表達(dá)人
標(biāo)簽： Microsoft Office Excel 2007
上傳時(shí)間： 2015-12-19
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eRDP 電子潛水計(jì)算機(jī) 使用手冊(cè)簡(jiǎn)報(bào) Use this presentation to introduce the eRDP to new divers, experienced divers and dive professionals.
標(biāo)簽： divers eRDP presentation experienced
上傳時(shí)間： 2014-01-22
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VHDL 開(kāi)發(fā)PCI加密解密卡 逢甲大學(xué) 資訊工程學(xué)系專(zhuān)題報(bào)告 PCI 介面之加解密卡製作
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arm學(xué)習(xí)報(bào)告第二章 GNU Tools
上傳時(shí)間： 2014-11-28
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ARM學(xué)習(xí)報(bào)告3_HaydenLuo BIOS總體結(jié)構(gòu)及部份源代碼分析
標(biāo)簽： HaydenLuo BIOS ARM 分
上傳時(shí)間： 2016-03-14
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《模擬電子技術(shù)基礎(chǔ)》習(xí)題答案（童詩(shī)白第三版）
標(biāo)簽： 模擬電子 技術(shù)基礎(chǔ)
上傳時(shí)間： 2016-07-07
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OPEN-JTAG ARM JTAG 測(cè)試原理 1 前言 本篇報(bào)告主要介紹ARM JTAG測(cè)試的基本原理。基本的內(nèi)容包括了TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的介紹，在此基礎(chǔ)上，結(jié)合ARM7TDMI詳細(xì)介紹了的JTAG測(cè)試原理。 2 IEEE Standard 1149.1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture 從IEEE的JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)開(kāi)始，JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的簡(jiǎn)稱(chēng)。IEEE 1149.1標(biāo)準(zhǔn)最初是由JTAG這個(gè)組織提出，最終由IEEE批準(zhǔn)並且標(biāo)準(zhǔn)化，所以，IEEE 1149.1這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)一般也俗稱(chēng)JTAG測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。 接下來(lái)介紹TAP (TEST ACCESS PORT) 和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE的基本架構(gòu)。
標(biāo)簽： JTAG BOUNDARY-SCAN OPEN-JTAG ARM
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